Cz*** 1
advertisement
Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa aparatury naukowo-badawczej dla Wydziału Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS w Lublinie w ramach Projektu współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej: Umowa o dofinansowanie nr UDA-POIS.13.01-045/08-00 zawarta w dniu 30 stycznia 2012r. Projekt ,,Rozwój i modernizacja bazy dydaktyczno-naukowej na kierunkach priorytetowych UMCS” POIS.13.01.00-00-045/08 realizowany w ramach działania 13.1 Infrastruktura Szkolnictwa Wyższego Priorytet XIII Program Operacyjny Infrastruktura i Środowisko 2007-2013 (oznaczenie sprawy: PN/17-2013/POIŚ) Zamówienie składa się z pięciu części: Część 1 – Dostawa niskotemperaturowego mikroskopu ze skanującą sondą Część 2 – Dostawa spektrometru fluorescencji rentgenowskiej Część 3 – Dostawa kriostatu helowego z chłodziarką Część 4 – Dostawa wieloparametrycznego spektrometru anihilacyjnego Podzespół a – Wieloparametryczny spektrometr anihilacyjny – część detekcyjna Podzespół b – Wieloparametryczny spektrometr anihilacyjny – część akwizycyjna Podzespół c – Komora pomiarowa z oprzyrządowaniem Podzespół d - Wysokociśnieniowy układ pomiarowy Część 5 – Dostawa spektrometru opóźnionych koincydencji Podzespół a – Spektrometr opóźnionych koincydencji – część detekcyjna Podzespół b – Spektrometr opóźnionych koincydencji – część akwizycyjna Wymienione urządzenia muszą być fabrycznie nowe, wyprodukowane nie wcześniej niż w 2013r., nieużywane w jakimkolwiek laboratorium oraz nieeksponowane na konferencjach lub imprezach targowych oraz muszą spełniać wymagania techniczno-funkcjonalne wyszczególnione w opisie przedmiotu zamówienia. W ramach Części 4 oraz Części 5 Zamawiający dopuszcza złożenie oferty na jeden z podzespołów. Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Część 1 – Dostawa niskotemperaturowego mikroskopu ze skanującą sondą Przedmiotem zamówienia jest zakup i uruchomienie niskotemperaturowego mikroskopu ze skanującą sondą (SPM) zawierającego: 1. - niskotemperaturową głowicę LT STM/AFM do pracy temperaturach helowych w warunkach UHV, 2. - elektroniczny układ kontroli i rejestracji pomiarów STM i AFM, 3. - układ kontroli temperatury, 4. - układ ultra-wysokiej próżni wraz z systemami pompowymi i układem sterowania, 5. - komorę analityczno-preparacyjną, 6. - manipulator próbek z systemem chłodzenia próbki, 7. - źródła naparowania metali z zasilaczami, 8. - działo jonowe do czyszczenia powierzchni próbek z zasilaczem i układem dozowania gazu, 9. - układy zasilania, sterowania i wygrzewania aparatury, 10. - system izolacji wibracji. Szczegółowy opis wymaganych parametrów urządzenia jest zamieszczony w załączonej poniżej tabeli: 1. Nazwa Niskotemperaturowa głowica LT STM/AFM do pracy temperaturach helowych w warunkach UHV Parametry techniczne wymagane przez Zamawiającego a). Głowica LT STM chłodzona poniżej 5K w układzie z kriostatem zalewowym He i osłoną z LN. b). Zintegrowany, wymienny czujnik do bezkontaktowych pomiarów AFM z atomową rozdzielczością w niskich temperaturach. c). Czas pracy w temperaturze poniżej 5K bez uzupełniania He i LN nie mniej niż 48 godz. d). STM i kriostat UHV kompatybilne i wygrzewalne w temperaturze nie niższej niż 425K. e). Atomowa zdolność rozdzielcza STM. W kierunku Z < 0.005nm. f). Polaryzacja ostrze STM – próbka w zakresie +/- 10V. g). Możliwość skanowania STM z prądem tunelowym w zakresie od 1 pA do 200 nA. h). Przedwzmacniacz STM z kompensacją prądu przesunięcia i prądu zerowego. i). Skaner wyposażony w urządzenia do montowania czujnika AFM nc z minimalną amplitudą drgań nie większą niż 10pm w temperaturach helowych. j). Przedwzmacniacz AFM z pasmem przenoszenia nie mniejszym niż 200 kHz. k). Zakres skanowania nie mniej niż 10 m x 10 m x 1 m w temperaturze pokojowej. l). Zakres zgrubnego ustawienia ostrza nie mniej niż 5mm x 5 mm x10 mm. m). Możliwość wymiany ostrza i próbki bez zapowietrzenia układu. n). Możliwość montażu próbek o grubości do 5mm. o). Możliwość przekładania próbki z chłodzonego manipulatora XYZ do głowicy STM/AFM p). Dryf próbka –ostrze poniżej 1pm/godzinę. q). Możliwość ogrzewania kasety próbki powyżej temperatury chłodzenia LH, co najmniej do 50K; powyżej temperatury chłodzenia LN, co najmniej do 230K. r). Możliwość szybkiej, w czasie poniżej 1 godziny, zmiany temperatury uchwytu próbki od temperatur helowych do temperatury pokojowej. s). Możliwość naparowania molekuł i atomów z dwóch źródeł na próbkę podczas skanowania STM/AFM. t). Możliwość usuwania ostrza z pola widzenia źródeł podczas naparowania na próbkę w głowicy STM/AFM. u). Wysokość aparatury ograniczona wysokością pomieszczenia h=3.15 m. Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia 2. Elektroniczny układ kontroli i rejestracji pomiarów STM i AFM, 3. 4. Układ kontroli temperatury Układ ultra-wysokiej próżni wraz z systemami pompowymi i układem sterowania Komora analityczno-preparacyjna 5. 6. Manipulator próbek z systemem chłodzenia próbki 7. Źródła naparowania metali z zasilaczami Działo jonowe do czyszczenia powierzchni próbek z zasilaczem i układem dozowania gazu Układy zasilania, sterowania i wygrzewania aparatury. System izolacji wibracji 8. 9. 10. v). Szerokość zdemontowanej aparatury ograniczona szerokością drzwi laboratorium w=90 cm. a). Układ kontroli i rejestracji z rozdzielczością nie gorszą niż 20 bitów. Możliwość pomiarów STM topograficznych, prądowych i spektroskopowych. Układ kontroli i rejestracji pomiarów AFM. b). Oprogramowanie pomiarowe. Cyfrowy kontroler temperatury wraz z czujnikami temperatur kriogenicznych. Komora UHV mikroskopu z niemagnetycznej stali. Układ pompowy z pompami rotacyjną, turbomolekularną, jonową i sublimacyjną. Komora UHV z niemagnetycznej stali z zestawem portów typu CF i układem transferu próbek z atmosfery. Możliwość transferu ostrzy STM i chłodzonych próbek pomiędzy komorą STM a komorą preparacyjną. Precyzyjny manipulator chłodzony He. Przesuw X,Y +/-12 mm, przesuw Z z komory analityczno-preparacyjnej do STM z możliwością utrzymania niskiej temperatury. Obrót próbki 360 deg. Próbka ogrzewana prądowo (typu „flash”) prądem do 5A/40V (bez zasilacza). Próbka ogrzewana wiązką elektronową. Próbka uziemiona. 2 źródła z tyglami grzanymi wiązką elektronów do naparowania metali i półprzewodników w zakresie sub-monowarstwowych. Zasilacze źródeł z kablami. Możliwość precyzyjnego ustawienia źródeł względem próbki w mikroskopie STM/AFM. Energia jonów od 500 eV do 3 keV, prąd jonowy nie mniej niż 60 A, średnica wiązki w miejscu próbki 10 mm. Regulowany rozmiar plamki jonów. Zasilacz z kablami. Układ dozowania gazów szlachetnych z precyzyjnymi zaworami. Zaopatrzony w układy sterowania i kontroli pomp, mierniki próżni oraz system grzejników i osłon wraz z układami sterowania i kontroli wygrzewania aparatury. Pneumatyczny system izolacji wibracji z automatycznym poziomowaniem. Pozostałe informacje: Dostawa: Gwarancja: Serwis: Instrukcja obsługi: Miejsce dostawy: W terminie do 8 miesięcy od daty uzgodnienia rysunków (uzgodnienie rysunków, potwierdzone odpowiednim dokumentem, nastąpi po podpisaniu umowy przetargowej) Minimum 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych) Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Bezpłatny w okresie gwarancji; co najmniej 5 lat po okresie gwarancyjnym Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej; Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki; Instytut Fizyki, 20-031Lublin, Pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1 Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Część 2 – Dostawa spektrometru fluorescencji rentgenowskiej Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja spektrometrów do mikroanalizy rentgenowskiej WDS i EDS instalowanych na wspólnej platformie analitycznej zintegrowanych ze skaningowym mikroskopem elektronowym SEM do analizy ilościowej składu pierwiastkowego w szerokim zakresie wraz z wyposażeniem analitycznym i sterującym oraz oprogramowaniem. Systemem operacyjnym programów kontrolujących oferowane urządzenia: zbierających, rejestrujących i analizujących dane ma być Windows Vista lub wyższy. Szczegółowy opis wymaganych parametrów urządzeń jest zamieszczony w załączonej poniżej tabeli: Nazwa aparatu / urządzenia / systemu / usługi 1) Moduł spektrometru rentgenowskiego z dyspersją długości fali (WDS), z wyposażeniem analitycznym i sterującym, wraz z oprogramowaniem Podzespół / układ komponent Konstrukcja Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego Parametry graniczne urządzenia Spektrometr WDS musi wykorzystywać do przeprowadzania mikroanalizy rentgenowskiej wiązkę elektronową dostarczaną przez układ analityczny, z którym musi być zintegrowany sprzętowo i programowo Spektrometr WDS musi umożliwiać pełną integrację ze spektrometrem EDS na wspólnej platformie analitycznej Zakres analizowanych pierwiastków Spektrometr WDS musi zapewniać detekcję pierwiastków co najmniej od boru (B) do plutonu (Pu) Układ detekcyjny Spektrometr WDS powinien być wyposażony w co najmniej dwa liczniki proporcjonalne: zamknięty (szczelny) oraz przepływowy o dużej wydajności detekcji i dokładności w zakresie niskich i wysokich energii promieniowania rentgenowskiego Układ detekcyjny powinien być wyposażony przynajmniej w 4 wymienialne, wyginane kryształy analizujące i zapewniać pomiar energii promieniowania rentgenowskiego co najmniej w zakresie od 0,17 keV do 10,84 keV Układ detekcyjny powinien umożliwiać rozszerzanie go o dodatkowe kryształy analizujące Kryształy analizujące i detektor powinny być montowane na kole Rowlanda o średnicy przynajmniej 200 mm i umożliwiać pomiary w geometrii - 2 z kątami 2 w zakresie przynajmniej od 35 do 135 Układ detekcyjny powinien być wyposażony w regulowaną szczelinę wejściową umożliwiającą optymalizację energetycznej zdolności rozdzielczej Rozdzielczość energetyczna: dla linii Kα Si powinna być nie gorsza niż 2 eV, dla linii Kα Fe powinna być nie gorsza niż 25 eV Stosunek zliczeń w maksimum wierzchołka Kα Si do zliczeń w tle powinien wynosić 2500 lub więcej, dla linii Kα Fe - 500 lub więcej Natężenie wierzchołka (zliczenia na sekundę/nanoamper) dla linii Kα Si powinno wynosić co najmniej 500, dla wiązki elektronowej przyśpieszanej napięciem 20 kV dla linii Kα Fe przyśpieszającym wiązki 30 kV Natężenie wierzchołka powinno być nie mniejsze niż 1000 zliczeń na sekundę/ nanoamper, przy napięciu Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Oprogramowanie sterujące i analityczne oraz tryby pracy spektrometru WDS Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być przystosowane do pracy pod kontrolą systemu operacyjnego o parametrach nie gorszych niż Windows Vista lub równoważnego i wyposażone w ten system Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być kompatybilne z aparaturą w dostarczanej konfiguracji sprzętowej Oprogramowanie dostarczone ze spektrometrem WDS musi zapewniać analizę jakościową w trybie automatycznym i ręcznym Wymagane są co najmniej następujące tryby zbierania danych i analizy składu chemicznego w warstwie powierzchniowej badanej 2) Moduł spektrometru rentgenowskiego z dyspersją energii (EDS) wraz z wyposażeniem analitycznym i sterującym oraz Konstrukcja próbki: w punkcie, w obszarze prostokątnym i eliptycznym (w trybie automatycznym) oraz w obszarze o dowolnym kształcie w trybie definiowania przez operatora Oprogramowanie spektrometru powinno zapewniać możliwość analiz bezwzorcowych oraz przy użyciu wzorców Wraz ze spektrometrem powinien być dostarczony przynajmniej jeden wzorzec do kalibracji układu i rekalibracji analiz ilościowych Oprogramowanie powinno posiadać funkcję mapowania rozkładu pierwiastków z opcją stosowania automatycznych algorytmów usuwających efekty nakładania się wierzchołków oraz odejmowania tła w czasie analizy i z możliwością zapisu obrazu z maksymalną rozdzielczością elektroniczną nie gorszą niż 4000 4000 pikseli. Każdy zapisywany piksel mapy powinien zawierać informacje o widmie promieniowania rentgenowskiego pochodzącego z odpowiedniego, wzbudzonego punktu powierzchni analizowanej Oprogramowanie powinno umożliwiać zapis obrazów, widm rentgenowskich i map rozkładu pierwiastków w co najmniej dwóch z następujących formatów: *.bmp, *.gif, *.jpg, *.jpeg, *.png, *.tif lub *.tiff Oprogramowanie analityczne powinno zapewniać wybieraną przez operatora wstępną i w realnym czasie korekcję dryfu wiązki analizującej Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać operatorowi zdefiniowanie zestawu pierwiastków analizowanych przy pomocy spektrometru WDS lub WDS i EDS w czasie równoczesnego korzystania z obydwu spektrometrów Oprogramowanie analityczne powinno zawierać opcję mapowania fazowego, umożliwiającego rozseparowanie i oddzielną analizę faz o różnym składzie chemicznym Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać wykonywanie ilościowych analiz wzdłuż linii o zadawanej przez operatora liczbie punktów Spektrometr EDS musi wykorzystywać do przeprowadzania mikroanalizy rentgenowskiej wiązkę elektronową o natężeniu co najmniej dostarczaną przez układ analityczny, z którym musi być zintegrowany sprzętowo i programowo Spektrometr EDS musi umożliwiać pełną integrację ze spektrometrem WDS na wspólnej platformie analitycznej Zakres analizowanych pierwiastków Spektrometr EDS musi zapewniać detekcję pierwiastków co najmniej od berylu (Be) do plutonu (Pu) Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia oprogramowaniem Układ detekcyjny wyposażony w detektor krzemowy typu SDD o powierzchni czynnej równej co najmniej 10 mm 2 zastosowany detektor nie powinien wymagać chłodzenia ciekłym azotem gwarantowana rozdzielczość energetyczna detektora SDD (najlepiej określona według normy ISO 15632:2012) nie może być gorsza niż: - dla linii K manganu - 129 eV, - dla linii K węgla - 57 eV, - dla linii K fluoru - 67 eV gwarantowana stabilność rozdzielczości (przesunięcie wierzchołka) w zakresie dynamicznym co najmniej od 1000 do 100 000 zliczeń na sekundę nie większe niż 1 eV wyposażony w programową korekcję spiętrzania impulsów przy dużych szybkościach zliczania maksymalna ilość kanałów rejestrowanych widm rentgenowskich – co najmniej 4096 Oprogramowanie sterujące i analityczne oraz tryby pracy spektrometru EDS Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być przystosowane do pracy pod kontrolą systemu operacyjnego o parametrach nie gorszych niż Windows Vista lub równoważnego i wyposażone w ten system Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być kompatybilne z aparaturą w dostarczanej konfiguracji sprzętowej Oprogramowanie dostarczone ze spektrometrem EDS musi zapewniać analizę jakościową w trybie automatycznym i ręcznym Wymagane są co najmniej następujące tryby zbierania danych i analizy składu chemicznego w warstwie powierzchniowej badanej próbki: w punkcie, w obszarze prostokątnym i eliptycznym (w trybie automatycznym) oraz w obszarze o dowolnym kształcie w trybie definiowania przez operatora Oprogramowanie spektrometru powinno zapewniać możliwość analiz bezwzorcowych oraz przy użyciu wzorców Wraz ze spektrometrem powinien być dostarczony przynajmniej jeden wzorzec do kalibracji układu i rekalibracji analiz ilościowych Oprogramowanie powinno posiadać funkcję mapowania rozkładu pierwiastków z opcją stosowania automatycznych algorytmów usuwających efekty nakładania się wierzchołków oraz odejmowania tła w czasie analizy i z możliwością zapisu obrazu z maksymalną rozdzielczością elektroniczną nie gorszą niż 4000 4000 pikseli. Każdy zapisywany piksel mapy powinien zawierać informacje o widmie promieniowania rentgenowskiego pochodzącego z odpowiedniego, wzbudzonego punktu powierzchni analizowanej Oprogramowanie powinno umożliwiać zapis obrazów, widm rentgenowskich i map rozkładu pierwiastków w co najmniej dwóch z następujących formatów: *.bmp, *.gif, *.jpg, *.jpeg, *.png, *.tif lub *.tiff Oprogramowanie analityczne powinno zapewniać wybieraną przez operatora wstępną i w realnym czasie korekcję dryftu wiązki analizującej Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać operatorowi zdefiniowanie zestawu pierwiastków analizowanych przy pomocy spektrometru EDS lub WDS i EDS w czasie równoczesnego korzystania z obydwu spektrometrów Oprogramowanie analityczne powinno zawierać opcję mapowania fazowego, umożliwiającego rozseparowanie i oddzielną analizę faz o różnym składzie chemicznym Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać wykonywanie ilościowych analiz wzdłuż linii o zadawanej przez operatora liczbie punktów Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia 3) Platforma do instalacji spektrometrów WDS i EDS (skaningowy mikroskop elektronowy SEM) ze zmienną próżnią z wyposażeniem analitycznym i sterującym wraz z oprogramowaniem Konstrukcja Komora próbek o średnicy wewnętrznej co najmniej 230 mm, wyposażona w przynajmniej 10 portów do instalacji spektrometrów, detektorów do tworzenia obrazów w optyce elektronowej i innych opcjonalnych urządzeń Przestrzeń dostępna dla umieszczania próbek, co najmniej 150 mm (średnica) 60 mm (wysokość) Komora powinna być wyposażona w zmotoryzowany w pięciu osiach ( x, y, z, pochylenie i obrót) stolik dla próbek, zapewniający regulację położenia co najmniej w zakresie 80 mm w płaszczyźnie X, 60 mm w płaszczyźnie Y , 40 mm w płaszczyźnie Z, kątów pochylenia od -80 do +80 oraz obrót o kąt pełny komora próbki musi być wyposażona przynajmniej w pneumatyczny układ tłumienia drgań przekazywanych z podłoża Możliwe tryby pracy, co najmniej: - w wysokiej próżni, nie gorszej niż 102 paskala (Pa) - w średniej próżni, w zakresie przynajmniej od 10 do 150 Pa - w niskiej próżni, co najmniej od 10 do 500 Pa Układ wyposażony we własny dwustopniowy układ pomp próżniowych, z pompą rotacyjną próżni wstępnej i turbomolekularną próżni wysokiej Układ powinien zapewniać możliwość automatycznego przełączania różnych trybów próżniowych pracy bez konieczności zapowietrzania komory Układ próżniowy platformy powinien zapewniać możliwość różnicowego pompowania pozwalającego wprowadzać w przypadku próbek nieprzewodzących w obszar próbki gazu pod ciśnieniem wystarczającym do kompensacji efektu ładowania się próbki ładunkiem elektrycznym Źródło analizującej wiązki elektronowej z katodą wolframową lub LaB6 Natężenie elektronowej wiązki analizującej wiązki regulowane w zakresie co najmniej od 1 pikoampera (pA) do 2 mikroamperów (A) Zakres maksymalnych energii elektronów regulowany, od co najmniej 200 V do 30 kV Układ ogniskowania elektronowej wiązki analizującej wyposażony w magnetyczne soczewki elektronowe bez apertur mechanicznych wymagających centrowania i z możliwością wyłącznie elektronicznej płynnej regulacji efektywnej średnicy wiązki Układ skanowania wiązką elektronową powinien posiadać możliwość regulowania szybkości przemiatania co najmniej w zakresie od 20 nanosekund (ns) do 10 milisekund (ms) na piksel Układ skanowania powinien być wyposażony w układ korygowania pochylenia badanej powierzchni Rozdzielczość elektroniczna zapisywanych obrazów elektronowych nie powinna być gorsza niż 8192 8192 piksele Powinien być możliwy zapis obrazów co najmniej w dwóch z następujących formatów: *.bmp, *.tiff, *.png, *.gif, *.jpeg, *.jpg, pgm , ppm. platforma analityczna powinna być wyposażona w układ pomiaru prądu próbki Układ powinien wyposażony w przynajmniej dwa detektory, do rejestracji elektronów wtórnych (SE) oraz elektronów wstecznie rozproszonych (BSE) Powinna być przewidziana możliwość usuwania detektora BSE z wiązki Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia 4) Szkolenie w obsłudze i konserwacji aparatury Tryby pracy i obrazowania badanych powierzchni Możliwość uzyskiwania obrazów co najmniej w optyce elektronów wtórnych (SE) i rozproszonych wstecznie (BSE) Możliwość uzyskiwania obrazów powierzchni analizowanych próbek w optyce elektronowej z rozdzielczością przestrzenną nie gorszą Dodatkowe parametry, cechy i wyposażenie niż: - 3,0 nanometry (nm) przy energii wiązki elektronowej 30 keV, w trybie wysokiej próżni - 3,5 nanometra (nm) przy energii wiązki 30 keV, w trybie średniej i niskiej próżni Możliwość uzyskiwania obrazów powierzchni próbek nieprzewodzących, bez konieczności metalizowania ich powierzchni Możliwość osiągania obrazów w optyce elektronowej z płynnie regulowanym powiększeniem, co najmniej w zakresie od 5 do 1 000 000 Możliwość optymalizacji uzyskiwanych obrazów pod kątem co najmniej maksymalnej rozdzielczości i maksymalnej głębi obrazu Możliwość programowego wybierania fragmentów próbki przy małym powiększeniu do obserwacji przy dużym powiększeniu Możliwość obserwacji całej próbki i podglądu komory próbki przy bardzo małym powiększeniu Układ ogniskowania i układ próżniowy nie powinny wymagać chłodzenia cieczą Układ powinien być wyposażony w alarm uprzedzający o zetknięcia się stolika z elementami komory Układ powinien być wyposażony w dedykowaną kamerę CCD do podglądu komory, ułatwiającą bezpieczne manipulowanie próbką Zewnętrzna pompa próżniowa umieszczona w specjalnie do tego przeznaczonej obudowie wyciszającej, która zawiera wbudowane wentylatory zapewniające właściwe chłodzenie pompy oraz układ pomiaru temperatury pracy pompy próżniowej zintegrowany system analityczny powinien być wyposażony w co najmniej dwa komputery PC z monitorami LCD o przekątnej ekranu przynajmniej 22’’ zintegrowany system analityczny powinien być wyposażony w dodatkowy, niezależny od sterowania programowego, panel sterujący z pokrętłami regulacyjnymi i wyświetlaczem LCD w skład zestawu powinien wchodzić stół przystosowany do ustawienia aparatury i komputerów wykonanie pomiarów kontrolnych pola magnetycznego w pomieszczeniu pracowni spektrometrii rentgenowskiej Instytutu Fizyki UMCS doradztwo w kwestii przystosowania pomieszczenia pracowni do instalacji zestawu spektrometrów i platformy analitycznej co najmniej 3 dniowe szkolenie w trakcie realizacji dostawy, instalacji i uruchomienia dodatkowe szkolenie aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi spektrometru i użytkowania oprogramowania w terminie uzgodnionym przez strony (nie później niż po 3-4 tygodniach od daty instalacji, co najmniej 4-dniowe dla 3 osób w siedzibie Zamawiającego Dostawa Do 18 tygodni (126 dni) od daty zawarcia umowy Gwarancja co najmniej 24 miesiące od daty podpisania protokołu odbioru Serwis Bezpłatny serwis gwarancyjny i co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny zapewniony przez Dostawcę. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Adres dostawy Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej w Lublinie, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Plac Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20-031 Lublin Wymagania dodatkowe Wymagane przez Zamawiającego Zamawiający nie dopuszcza składania ofert częściowych w obrębie części 2. Akceptowane będą tylko oferty spełniające wyszczególnione powyżej wymagania. Instrukcję obsługi, warunki bezpieczeństwa pracy, podstawową dokumentację techniczną oferowanych w zestawie urządzeń, zawierającą najważniejsze parametry techniczne i użytkowe (w wersji papierowej lub elektronicznej w języku polskim) Wykonawca winien dostarczyć wraz z dostawą. Odbiór aparatury Wymagane przez Zamawiającego Instalacja aparatury na miejscu u Użytkownika. Wykonawca gwarantuje, że zaoferowana aparatura jest kompletna i będzie po zainstalowaniu gotowa do podjęcia pracy bez żadnych dodatkowych zakupów i inwestycji (poza materiałami eksploatacyjnymi). Wykonawca gwarantuje sprawne funkcjonowanie spektrometrów WDS i EDS zainstalowanych na platformie analitycznej łącznie z ich wyposażeniem analitycznym i sterującym oraz oprogramowaniem, a także wykazanie wszystkich oferowanych parametrów technicznych, co będzie podstawą protokołów odbioru aparatury i usług. Część 3 – Dostawa kriostatu helowego z chłodziarką Przedmiotem zamówienia jest dostawa kriostatu helowego do spektroskopii Mössbauerowskiej z chłodziarką helową pracującą w obiegu zamkniętym. Szczegółowy opis wymaganych parametrów urządzenia jest zamieszczony w załączonej poniżej tabeli: Nazwa aparatu / urządzenia / systemu – liczba sztuk Kriostat Mössbauerowski z chłodziarką helową 4 K pracującą w obiegu zamkniętym wraz z wyposażeniem Podzespół / komponent / układ [opis] Kriostat Mössbauerowski Nazwa Sposób chłodzenia Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego Wymiar/jednostka próbka chłodzona w środowisku gazu wymiennego (chłodzona statyczna kolumna par helu), w dwustopniowym cyklu Gifforda-MacMahona (G-M) Nominalny zakres temperatur gwarantowana podstawowa temperatura nie wyższa niż 4,5 K, oczekiwana 4,2 K lub niższa (po wyeliminowaniu pasożytniczych eksperymentalnych i radiacyjnych obciążeń cieplnych) Górna granica temperatur roboczych co najmniej 300 K Możliwość szybkiej wymiany próbki bez ogrzewania głowicy zimnej do temperatury otoczenia tak (czas schładzania po wymianie próbki od temperatury pokojowej do około 5 K + nie dłuższy niż 5 minut) Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Przybliżony czas schładzania od temperatury pokojowej do temperatury 5K około 2,5 godziny Kształt i stan skupienia materiału próbki dowolny, w tym próbki proszkowe, ciekłe oraz próbki ze złym przewodnictwem cieplnym Ładowanie próbki od góry, próbka Mocowanie próbki Optyczny uchwyt próbki, bez bezpośredniego kontaktu z „zimnym palcem” chłodziarki Zespół uchwytu i pozycjonowania próbki umożliwiający obrót próbki wokół osi pionowej i jej przesuwanie w pionie Komora próbki całkowita średnica nie mniejsza niż 38 mm; wyposażona w dwa okienka w geometrii 180° wykonane z aluminizowanego Mylaru, berylowe lub równoważne, zapewniające minimalne poszerzenie linii w widmie Mössbauerowskim, o średnicy nie mniejszej niż 19 mm płaszcz próżniowy z dwoma okienkami z Mylaru lub berylu, o średnicy nie mniejszej niż 25 mm Połączenie z układem próżniowym poprzez zawór próżniowy wyposażony we flansze KF-25 (NW -25) lub równoważne Wyposażenie dodatkowe zintegrowany manometr do pomiaru ciśnienia w komorze próbki Mocowanie kriostatu poprzez elastyczny mieszek antywibracyjny do statywu z pneumatyczną lub inną izolacją wibracyjną od podłoża, dostępnego jako opcja standardowa Orientacyjna amplituda wibracji zlokalizowanych w pobliżu drugiego stopnia chłodziarki (mogących przenieść się na próbkę) wzdłuż osi podłużnej - nie większa niż 20 mikrometrów w kierunku poprzecznym do osi podłużnej – nie większa niż 5 mikrometrów Orientacyjna amplituda drgań próbki co najwyżej 50 nm (nanometrów) Poszerzenie linii Mössbauerowskich powodowane pracą chłodziarki poniżej (0,007 ± 0,002) mm/s dla najbardziej wewnętrznych linii sekstetu mierzonych w zakresie prędkości ± 2 mm/s dla folii alfa-Fe o grubości około 25 mikrometrów, przy temperaturze pokojowej, z wykorzystaniem linii 14,4 keV żelaza Fe-57 ze źródła Co-57 Możliwość łatwego przemieszczania w laboratorium tak Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Zestaw chłodziarki helowej 4 K – głowica zimna Zestaw chłodziarki helowej 4 K – sprężarka Możliwość mocowania do statywu dodatkowych półek pod źródło Mössbauerowskie i detektor (licznik proporcjonalny, detektor scyntylacyjny) tak Inne wymagania co najmniej jeden 10. wtykowy przepust elektryczny umieszczony w pobliżu próbki co najmniej dwa zapasowe 10. wtykowe przepusty elektryczne w obudowie kriostatu Model głowicy zimnej dwustopniowa pracująca w cyklu Gifforda-MacMahona (G-M) Tryb pracy zamknięty obieg helu Wydajność chłodzenia głowicy zimnej (przy zasilaniu napięciem o częstotliwości 50 Hz) nie mniejsza niż 3 W przy 50 K na pierwszym stopniu chłodzenia nie mniejsza niż 0,5 W przy temperaturze 4,2 K na drugim stopniu chłodzenia Minimalna osiągalna temperatura głowicy zimnej przynajmniej 3,5 K (bez obciążenia cieplnego) Długość giętkiego przewody gazowego chłodziarka - kriostat co najmniej 10 m Utrata zdolności chłodzącej przy dowolnej orientacji przestrzennej głowicy zimnej nie większa niż 20 % Czas pomiędzy przeglądami serwisowymi głowicy zimnej nie krótszy niż 10 000 godzin Zasilanie trójfazowe lub jednofazowe z sieci 230 V AC 50/60 Hz Długość przewodu zasilania sieciowego głowicy zimnej co najmniej 6 m Długość giętkich przewodów gazowych (zasilającego i zwrotnego) między głowicą zimną i sprężarką co najmniej 10 m każdy Czas pomiędzy przeglądami serwisowymi sprężarki nie krótszy niż 20 000 godzin Zasilanie elektryczne z sieci trójfazowej 3 x AC 200 V/50 Hz Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Kontroler temperatury Zużycie energii (z sieci 50 Hz) ustalone: nie większe niż 2,8 kW maksymalne: nie przekracza 3,3 kW Długość przewodu zasilania sieciowego sprężarki co najmniej 5 m Chłodzenie sprężarki wodne Zużycie wody chłodzącej nie większe niż 200 litrów/ godzina Zakres temperatur roboczych co najmniej od 4 °C do 28 °C Podłączenie wody chłodzącej sprężarkę końcówka 3/8 cala NPT „męska” do węża o średnicy ½ cala Materiały dodatkowe gazowy hel wysokiej czystości w ilości wystarczającej do napełnienia objętości roboczej sprężarki Liczba niezależnych wejść do podłączenia czujników temperatury co najmniej 4 Liczba niezależnych wyjść pomiarowych co najmniej 4 Rodzaje akceptowanych czujników temperatury diody półprzewodnikowe czujniki rezystancyjne ( RTD) czujniki termistorowe (NTC) termopary Zakres mierzonych temperatur co najmniej od 300 mK (milikelwinów) do 1500 K, z odpowiednimi czujnikami temperatury (NTC RTD) Wyświetlane jednostki K (kelwiny), °C, V, mV i Rozdzielczość cyfrowa wyświetlanej temperatury co najmniej 0,0001° w zakresie od 0° do 99,9999° co najmniej 0,001° w zakresie od 100° do 999,999° co najmniej 0,01° w zakresie powyżej 1000° Automatyczne przełączanie wejść tak pomiarowych pełnym zakresie pomiarowym Automatyczna kompensacja niepewności dla tak czujników rezystancyjnych powodowanych występowaniem siły termoelektrycznej (thermal EMF) Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Czujnik temperatury Układ próżniowy do kriostatu Regulator proporcjonalno-całkującoróżniczkujący (PID) tak, dwie pętle: 100 W dla obciążenia 50 (omów) lub 25 50 W dla obciążenia 50 (omów) lub 25 Strojenie automatyczne tak Możliwość przypisania czujnikom wyjść na wyświetlaczu tak Zasilanie: z sieci jednofazowej 240 V/50 Hz Rozdzielczość cyfrowa/napięciowa nie gorsza niż 16 bitów/0,3 mV Szumy pomiarowe poniżej 0,3 mV RMS Wyświetlacz LCD co najmniej 240 x 64 pikseli, z podświetleniem LED Zakres temperatury otoczenia co najmniej od 5°C do 40 °C (przy obniżonej dokładności) co najmniej od 15°C do 35 °C (przy standardowej dokładności) Dodatkowe wyposażenie interfejsy Ethernet, USB, IEEE-488 dwie grzałki o mocach elektrycznych co najmniej 50 W I 25 W Typ Dioda krzemowa (Si) Zakres mierzonych temperatur: co najmniej od 1,5 K (kelwina) do 500 K Praca w silnym polu magnetycznym co najmniej w zakresie od 70 K do 500 K Kalibracja zamontowany do uchwytu próbki w kriostacie Mössbauerowskim i wykalibrowany wraz z kontrolerem temperatury Typ/budowa układu układ bezolejowy, wyposażony w pompę próżni wstępnej oraz pompę turbomolekularną, budowa zintegrowana, układ bezobsługowy Wydajność pompowania układu nie gorsza niż 50 litrów/sekundę Czas uzyskiwania próżni 1105 milibara (w objętości roboczej około 14 litrów) - nie dłuższy niż 400 sekund Osiągany poziom próżni (ciśnienia bazowego) nie gorszy niż 1108 milibara przy stosowaniu złącz próżniowych typu KF/NW/ISO i 1109 milibara przy stosowaniu złącz próżniowych typu CF Połączenie próżniowe z odpompowywanym układem (kriostatem) poprzez złącze z flanszą typu ISO-63, za pomocą elastycznego mieszka próżniowego ze stali nierdzewnej o długości co najmniej 1,5 m, kompatybilne z kriostatem Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Dostawa Gwarancja Serwis Instrukcja obsługi Miejsce dostawy Wyposażenie w dodatkowe elementy próżniowe dołączone dodatkowe elementy próżniowe (zawór, redukcja, trójnik, szybkozłączki, uszczelki, pierścienie centrujące itp.) umożliwiające wykonanie podłączeń z układem odpompowywanym i próżniomierzem, a także odłączanie układu próżniowego od objętości roboczej Układ pomiaru próżni tak, ze zintegrowaną głowicą próżniomierza pozwalającą na pomiar w całym zakresie uzyskiwanych ciśnień, wyświetlacz cyfrowy Zakres mierzonych ciśnień co najmniej od ciśnienia atmosferycznego aż do 5109 milibara ( 5107 paskala (Pa)) Możliwość normalnej pracy układu pompy z odłączonym próżniomierzem: tak Zasilanie z sieci jednofazowej 220-240 VAC 50/60 Hz Pobór mocy z sieci maksymalnie do 260 woltoamperów (VA) Dopuszczalny zakres temperatur otoczenia co najmniej od 5 °C do 35 °C Temperatura wygrzewania układu próżniowego nie niższa niż 80 °C przy stosowaniu złącz próżniowych typu KF/NW/ISO Możliwość sterowania układem za pomocą komputera PC tak, poprzez złącze szeregowe RS232C lub USB, dołączone oprogramowanie do obsługi Pozycja robocza dowolna Podstawa układu: Płyta wyposażona w podkładki amortyzujące, np. z gumy Do 20 tygodni (140 dni) od daty zawarcia umowy Minimum 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny dostawcy lub producenta. Bezpłatny serwis gwarancyjny; co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Elektroniczna i papierowa w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej; Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki; Instytut Fizyki, pl. M. Curie Skłodowskiej 1, 20-031 Lublin Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Część 4 – Dostawa wieloparametrycznego spektrometru anihilacyjnego W ramach części 4 Zamawiający dopuszcza złożenie oferty na jeden z podzespołów Przedmiotem zamówienia jest dostawa wieloparametrycznego spektrometru anihilacyjnego. Szczegółowy opis wymaganych parametrów urządzenia jest zamieszczony w załączonej poniżej tabeli: Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ A Wieloparametryczny spektrometr anihilacyjny – część detekcyjna Podzespół / komponent / układ [opis] Głowica scyntylacyjna (3 szt.) nazwa Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego wymiar Fotopowielacz: średnica /powierzchnia aktywna fotokatody typ katody użyteczny zakres długości fal długość fal w maksimum czułości wydajność materiał okna czułość świetlna katody czułość świetlna anody wzmocnienie „prąd ciemny” czas narastania impulsu typ wyjścia Dzielnik napięcia: typ wyjścia zasilanie Przedwzmacniacz: typ napięcie zasilania czas narastania impulsu Obudowa: konstrukcja mocowanie Scyntylator: materiał średnica 51 mm/46 mm bialkaliczna 160-650 nm ~420 nm min. 80 mA/W kwarcowe min. 80 μA/lm min. 200 A/lm min. 2,5 x 106 maks. 110 mV ~0,7 ns prądowe dostosowany do fotopowielacza wg specyfikacji producenta dynodowe i anodowe (BNC) wejście wysokiego napięcia (SHV) do współpracy z 14-nóżkowymi fotopowielaczami o średnicy 2”, zintegrowany z dzielnikiem napięcia 12 V < 50 ns z ekranem magnetycznym, pozwalająca na wymianę scyntylatorów, niewymagane, możliwość zamocowania za pomocą pierścienia obejmującego detektor kryształ BaF2 38,1 mm Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Zasilacz wysokiego napięcia do detektorów scyntylacyjnych (3 szt.) wysokość wykończenie standard modułu napięcie wyjściowe natężenie prądu wskaźnik napięcia, natężenia, polaryzacji szumy na wyjściu długoterminowa niestabilność napięcia zabezpieczenie na wypadek przeciążenia lub zwarcia zewnętrzne sterowanie napięciem wyjściowym Detektor germanowy koaksjalny (2 szt.) wydajność względna zdolność rozdzielcza (FWHM) stosunek fotowierzchołek/ Compton FWTM/FWHM FWFM/FWHM kriostat przedwzmacniacz ładunkowy wyjście testowe do diagnostyki pierwszy stopień wzmocnienia zabezpieczenie w przypadku wzrostu prądu upływu detektora dewar średnica zewnętrzna obudowy kryształu wyposażenie dodatkowe 25,4 mm każda strona optycznie polerowana, góra i boki pokryte/otoczone warstwą odbijającą, obudowa dostosowana do głowicy scyntylacyjnej NIM płynna regulacja od 0 do +/- 3000 V do min. 10 mA na panelu czołowym < 10 mV szczyt-szczyt przy maksymalnym obciążeniu < 0,01%/godzinę automatyczne z funkcją przywrócenia napięcia po ustaniu przyczyny przeciążenia wbudowane min. 25 % dla linii 1,33 MeV maks. 1,80 keV dla 1,33 MeV, maks. 0,9 eV dla 122 keV min 54:1 1.9 2.65 poziomy niskoszumowy pozwalające na wyznaczenie prądu upływu detektora FET chłodzony i zabezpieczony diodą układ współpracujący z zasilaczem i wymuszający zdjęcie wysokiego napięcia 30 l maks. 3” (76 mm) zestaw kabli do podłączenia detektora Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Zasilacz wysokiego napięcia do detektorów HPGe (2 szt.) standard modułu napięcie wyjściowe natężenie prądu wskaźnik napięcia i polaryzacji szumy długoterminowa niestabilność zabezpieczenia NIM płynna regulacja od 0 do +/- 6000 V do 0,3 mA na panelu czołowym < 3 mV szczyt-szczyt przy maksymalnym obciążeniu zasilacza < 0,01%/godzinę zabezpieczenie przed natychmiastowym podaniem wysokiego napięcia, zabezpieczenie wyłączające wysokie napięcie po otrzymaniu sygnału świadczącego o wzroście prądu upływu, zabezpieczenie uniemożliwiające podanie wysokiego napięcia po przeciążeniu/zwarciu Dostawa Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy Gwarancja min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Serwis bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Instrukcja obsługi Adres dostawy Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ B Wieloparametryczny spektrometr anihilacyjny – część akwizycyjna Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20031 Lublin Podzespół / komponent / układ [opis] Digitizer (3 szt.) nazwa Rozdzielczość Standard rozmiar liczba kanałów pasmo przenoszenia częstotliwość próbkowania wbudowana pamięć impedancja wejściowa zakres napięć wejściowych typ złącz wejściowych konektory zabezpieczenia kompatybilność Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego wymiar min. 10 bit Compact PCI 1 slot cPCI min.2 min. 2 GHz min. 4Gs/s na kanał min. 128 M-pkt na kanał 50 Ohm 50mV – 5V BNC Konektory pozwalające na połączenie ze sobą digitizerów w celu synchronizacji czasowej Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe (surge do 5kV), na każdy kanał Współpracujące z oprogramowaniem (dołączonym lub dostępnym nieodpłatnie) Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Digitizer (1 szt.) Rozdzielczość Standard rozmiar liczba kanałów pasmo przenoszenia częstotliwość próbkowania wbudowana pamięć impedancja wejściowa zakres napięć wejściowych typ złącz wejściowych konektory zabezpieczenia kompatybilność Kaseta (1 szt.) standard standard mocowania rozmiar Liczba gniazd Zasilacz Uchwyt do mocowania w szafie RACK Interfejs komunikacyjny obudowa płyta główna pamięć procesor x 2 Komputer (1 szt.) Dostawa kontroler RAID dysk twardy x4 Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy pozwalającym na uzyskanie informacji czasowej ze zdigitalizowanych impulsów anodowych z głowicy scyntylacyjnej i dostosowanym do pomiarów Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy (PALS) min. 12 bit Compact PCI 1 slot cPCI min.2 min. 300GHz min. 400Ms/s min. 8Mpts na kanał 50 Ohm 250mV – 10V BNC, SMA Konektory pozwalające na połączenie ze sobą digitizerów w celu synchronizacji czasowej Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe, na każdy kanał Współpracujące z oprogramowaniem (dołączonym lub dostępnym nieodpłatnie) pozwalającym na uzyskanie informacji czasowej ze zdigitalizowanych impulsów anodowych z głowicy scyntylacyjnej i dostosowanym do pomiarów Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy (PALS) Compact PCI RACK 4U 4 400W Dla kasety 5 slotowej cPCI – PCIe z kablem 5 m do zabudowy w szafie typu RACK, z możliwością instalacji kart rozszerzeń na 2 procesory wielordzeniowe, z min. 2 slotami PCIe x8, karta sieciowa GbiE min 32 GB każdy procesor winien osiągać średnią wydajność na poziomie minimum 11000 punktów w teście Passmark CPU Mark (http://www.cpubenchmark.net/high_end_cpus.html), wsparcie dla x64, SSE 4.1/4.2, AVX 2.0 w standardzie PCIe, sprzętowa obsługa RAID 0, 1, 6, 0+1, 1+0 każdy o pojemności 1 TB, 10000RPM, NCQ, 64 MB cache Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Gwarancja min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Serwis bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20031 Lublin Instrukcja obsługi Adres dostawy Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ C Komora pomiarowa z oprzyrządowaniem Podzespół / komponent / układ [opis] Komora próżniowa - reaktor System pompowy Układ pomiaru próżni Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego wymiar próbka w atmosferze gazów bez wpływu czynników zewnętrznych w żądanej temperaturze i ciśnieniu budowa dwie części: wewnętrzne kielichy gazowe oraz komora główna stanowiąca płaszcz próżniowy zapewniający izolację próbki od czynników zewnętrznych ciśnienie w komorze głównej możliwe maks. 10-5mbar do osiągnięcia podczas trwania eksperymentu w kielichach gazowych zakres ciśnień w kielichach gazowych od 10-5 do 2000 mbar usytuowanie układu detekcyjnego tuleje w komorze głównej umożliwiające zbliżenie na odległość max 30 mm od PALS środka próbki dwóch liczników scyntylacyjnych o średnicy 40 mm, ułożonych względem siebie pod kątem 90°, pozostających na zewnątrz komory ciśnienie minimalne maks. 10-5mbar pompy turbomolekularna, olejowa pompa próżni wstępnej z pułapką zeolitową zawory elektromagnetyczne: bezpieczeństwa i zapowietrzający z podłączeniami sterowania pomp mikroprocesorowa jednostka sterująca pracą pomp (wizualizacja pracy pomp, zaworów próżniowych, pomiar próżni w dwu kanałach),zabezpieczenia przed zanikiem napięcia zasilania, wyłączeniem wody chłodzącej odpompowanie kielichów gazowych do poziomu próżni umożliwiającej ich bezpieczne otwarcie bez konieczności wyłączania pompy turbo utrzymującej próżnię w komorze głównej głowica próżni wstępnej dopasowana do układu pompowego głowica pomiarowa ciśnienia zakres pracy od 1000 mbar do 5x10-9mbar wewnątrz komory głównej głowica pomiarowa ciśnienia zakres pracy od 2000 mbar do 5x10-9mbar wewnątrz kielichów gazowych (Dopuszcza się rozwiązanie z zastosowaniem większej liczby głowic nazwa typ pomiarów Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Układ dozowania gazów Nośnik próbek Zasilacz Stelaż Kable oraz połączenia próżniowe Dostawa Gwarancja Serwis Instrukcja obsługi Adres dostawy pokrywający zadany zakres pracy) odczyt ciśnień elektroniczny, zintegrowany ze sterowaniem systemem pompowym sposób dozowania gazów automatyczny z możliwością sterowania szybkością nacieku rozmiary próbki średnica 8 mm i wysokość 6mm typ próbki lita lub proszkowa (szczelne zamknięcie) położenie w kielichach gazowych zakres temperatur próbki od maks. –80°C (schładzanie za pomocą ciekłego azotu) do min. 650°C, pomiar temperatury umieszczanie nośnika wraz z próbką komorze funkcja rezystancyjne grzanie próbki w pełnym zakresie oferowanych temperatur typ układ pomiaru i regulacji z regulatorem PID temperatury programy zmian temperatury stała wartość oraz rampa temperaturowa funkcja stabilne ustawienie komory funkcja zestaw umożliwiający wykorzystanie wszystkich możliwości komory Do 6 miesięcy od daty zawarcia umowy min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20031 Lublin Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ D Wysokociśnieniowy układ pomiarowy Dostawa Gwarancja Serwis Instrukcja obsługi Adres dostawy Podzespół / komponent / układ [opis] Prasa hydrauliczna Parametr / funkcja nazwa wymiar min. 20 t w dolej płycie min. 80 mm min. 160 bar min. 180 mm/ 500 mm/ 320mm Nacisk Siłownik Skok siłownika Maksymalne ciśnienie robocze Wysokość/szerokość/głębokość robocza rozmiar płyty dolnej przednia osłona docisk dokładność odczytu siły nacisku dokładność przesunięcia tłoczyska odczyt na panelu sterującym analiza parametrów pracy sterowanie ręczne sterowanie zdalne 480 x 370 mm przezroczysty poliwęglan śrubowy od góry ,regulowany z blokadą maks. ±0,2 % zakresu maks. ±0,5 % zakresu nacisk (T, Kg, KN) ciśnienie(MPa, bar) odczyt, zapis i eksport, prezentacja na wykresie w czasie rzeczywistym za pośrednictwem panelu sterującego (ręczne) – możliwość wprowadzenia kilku punktów cyklu, w postaci nastawu: siły i czasu do nowej wartości zadanej (punktu) a następnie automatyczne utrzymywanie zadanej wartości, aż do końca ustawionego czasu (min. kilka godzin) lub nowego punktu cyklu, wstępne ustawienie(wysuw /powrót tłoczyska), ograniczenie maksymalnej wartości nacisku z komputera podłączonego przez USB lub Ethernet – dołączone oprogramowanie sterujące oraz sterowniki lub informacje o protokole komunikacji umożliwiające napisanie własnego oprogramowania sterującego Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki. Czas na podjęcie działań naprawczych: maksymalnie 14 dni. Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20031 Lublin Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Część 5 – Dostawa spektrometru opóźnionych koincydencji W części 5 Zamawiający dopuszcza złożenie na jeden z podzespołów Przedmiotem zamówienia jest dostawa spektrometru opóźnionych koincydencji Szczegółowy opis wymaganych parametrów zestawu jest zamieszczony w załączonej poniżej tabeli: Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ A Spektrometr opóźnionych koincydencji – część detekcyjna Podzespół / komponent / układ [opis] Głowica scyntylacyjna (2 szt.) nazwa Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego wymiar Fotopowielacz: średnica /powierzchnia aktywna fotokatody typ katody użyteczny zakres długości fal długość fal w maksimum czułości wydajność materiał okna czułość świetlna katody czułość świetlna anody wzmocnienie: nie mniej niż „prąd ciemny” czas narastania impulsu typ wyjścia Dzielnik napięcia: typ wyjścia zasilanie Przedwzmacniacz: typ napięcie zasilania czas narastania impulsu Obudowa: konstrukcja mocowanie Scyntylator: materiał średnica 51 mm/46 mm bialkaliczna 160-650 nm ~420 nm min. 80 mA/W kwarcowe min. 80 uA/lm min. 200 A/lm min. 2,5 x 106 maks. 110 mV ~0,7 ns prądowe dostosowany do fotopowielacza wg specyfikacji producenta dynodowe i anodowe (BNC) wejście wysokiego napięcia (SHV) do współpracy z 14-nóżkowymi fotopowielaczami o średnicy 2”, zintegrowany z dzielnikiem napięcia 12 V < 50 ns z ekranem magnetycznym, pozwalająca na wymianę scyntylatorów, niewymagane, możliwość zamocowania za pomocą pierścienia obejmującego detektor kryształ BaF2 38,1 mm Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Zasilacz wysokiego napięcia do detektorów scyntylacyjnych (2 szt.) Dyskryminator 31stałofrakcyjny (2 szt.) wysokość wykończenie standard modułu napięcie wyjściowe natężenie prądu wskaźnik napięcia, natężenia, polaryzacji szumy na wyjściu długoterminowa niestabilność napięcia zabezpieczenie na wypadek przeciążenia lub zwarcia zewnętrzne sterowanie napięciem wyjściowym standard modułu tryb pracy zakres dynamiczny niestabilność czasowa niestabilność progów nieliniowość całkowa rozdzielczość impulsów częstość impulsów na wejściu wejście sprzężenie amplituda impulsów wejściowych czas trwania impulsów wejściowych wyjście wskaźnik odzwierciedlający częstość zliczeń 25,4 mm każda strona optycznie polerowana, góra i boki pokryte/otoczone warstwą odbijającą, obudowa dostosowana do głowicy scyntylacyjnej NIM płynna regulacja od 0 do +/- 3000 V do min. 10 mA na panelu czołowym < 10 mV szczyt-szczyt przy maksymalnym obciążeniu < 0,01%/godzinę automatyczne z funkcją przywrócenia napięcia po ustaniu przyczyny przeciążenia wbudowane NIM normalny CFD lub różnicowy CFD trybie normalny min. 700:1, trybie różnicowy min. 300:1 max. 60 ps dla zakresu dynamicznego 100:1 max. ±0,02 %/oC max. ±0.25% max. 10 ns do 100 MHz BNC, 50 ohm stałoprądowe impulsy ujemne od max. 5 mV do min. 3,5 V w trybie normalnym min. 1ns ujemne impulsy prądowe, czas narastania ok. 2 ns minimalny czas trwania impulsu max. 5 ns, dodatnie impulsy napięciowe, wyjścia dodatnie i ujemne jednokanałowego analizatora amplitudy na panelu czołowym Dostawa Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy Gwarancja min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Serwis bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Instrukcja obsługi Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Adres dostawy Nazwa aparatu / urządzenia / systemu PODZESPÓŁ B Spektrometr opóźnionych koincydencji – część akwizycyjna Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20031 Lublin Podzespół / komponent / układ [opis] Digitizer (2 szt.) Kaseta (1 szt.) nazwa Rozdzielczość Standard rozmiar liczba kanałów pasmo przenoszenia częstotliwość próbkowania wbudowana pamięć impedancja wejściowa zakres napięć wejściowych typ złącz wejściowych konektory zabezpieczenia kompatybilność standard standard mocowania rozmiar Liczba gniazd Zasilacz Uchwyt do mocowania w szafie RACK Interfejs komunikacyjny Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego wymiar min. 10 bit Compact PCI 1 slot cPCI Min. 2 min. 2 GHz min. 4 Gs/s na kanał min. 128 Mpkt na kanał 50 Ohm 50mV – 5V BNC Konektory pozwalające na połączenie ze sobą digitizerów w celu synchronizacji czasowej Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe (surge do 5kV), na każdy kanał Współpracujące z oprogramowaniem (dołączonym lub dostępnym nieodpłatnie) pozwalającym na uzyskanie informacji czasowej ze zdigitalizowanych impulsów anodowych z głowicy scyntylacyjnej i dostosowanym do pomiarów Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy (PALS) Compact PCI RACK 3U 2 400W Dla kasety 3 slotowej cPCI – PCIe z kablem 5 m Załącznik nr 1 do SIWZ Opis przedmiotu zamówienia Komputer (1 szt.) obudowa płyta główna pamięć procesor x2 do zabudowy w szafie typu RACK, z możliwością instalacji kart rozszerzeń na 2 procesory wielordzeniowe, z min. 2 slotami PCIe x8, karta sieciowa GbiE min 32 GB każdy procesor winien osiągać średnią wydajność na poziomie minimum 11000 punktów w teście Passmark CPU Mark (http://www.cpubenchmark.net/high_end_cpus.html), wsparcie dla x64, SSE 4.1/4.2, AVX 2.0 w standardzie PCIe, sprzętowa obsługa RAID 0, 1, 6, 0+1, 1+0 każdy o pojemności 1 TB, 10000RPM, NCQ, 64 MB cache Dostawa kontroler RAID dysk twardy x4 Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy Gwarancja min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru Serwis bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego. Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą Instrukcja obsługi Adres dostawy Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki, Instytut Fizyki, pl. Marii Curie-Skłodowskiej 1, 20-031 Lublin UWAGA! Testy Passmark dla procesorów dostępne na stronie internetowej Zamawiającego. Zamawiający przy ocenie ofert będzie korzystał z testów z dnia publikacji ogłoszenia o zamówieniu w Dzienniku Urzędowym Unii Europejskiej. Jeżeli w dniu opublikowania się ogłoszenia o zamówieniu, testy nie są publikowane, Zamawiający posłuży się pierwszymi testami publikowanymi po publikacji ogłoszenia w DzUUE.
