Equipment SEM HITACHI S-3500N Lokalizacja
advertisement
Equipment SEM HITACHI S-3500N Lokalizacja: Wydział Inżynierii Materiałowej PW, ul. Wołoska 141, pok. 306A Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM – scanning electron microscope) z możliwością pracy w zmiennej próżni (LV – low vacuum). Napięcie przyspieszające 1 – 30KV, zdolność rozdzielcza 2,5nm przy napięciu 25kV, powiększenie 300 – 300 000 x. Wyposażenie: detektor elektronów wtórnych (SE - secondary electrons), dwa detektory elektronów wstecznie rozproszonych (BSE – back scatter electrons): półprzewodnikowy i Robinsona, energio-dyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS – energy dispersive spectrometer), stolik do obciążania próbek z siła do 2000N SEM Hitachi S-3500N Obraz powierzchni przełomu kompozytu FeNi-W Obraz w elektronach wtórnych (SE) Obraz w elektronach wstecznie rozproszonych (BSE) Rozkład pierwiastków wzdłuż linii w stali 12H1MF Ilość zliczeń Obraz struktury Eksperyment in situ odkształcenia plastycznego Al Obraz powierzchni w stanie wyjściowym Obraz powierzchni po odkształceniu Obserwacje w niskiej próżni preparatów nieprzewodzących Owad Pyłek kwiatowy Fragment oka owada Pająk
