wykaz metod badawczych
advertisement
WSSE w Szczecinie; OLS; Zał. nr 12 wyd. IV; z dnia 18.07.2016 r. do PO-02 strona /stron 1/3 WYKAZ METOD BADAWCZYCH STOSOWANYCH W LABORATORIUM BADAŃ ŚRODOWISKOWYCH I RADIACYJNYCH OBSZAR BADAŃ RADIACYJNYCH L.p . 1. 1. Przedmiot badań/wyrób 2. Środowisko pracy Badane cechy 3. Natężenie pola elektrycznego E w zakresie częstotliwości: 30 Hz – 38 GHz Natężenie pola magnetycznego H w zakresie częstotliwości: 50 Hz – 40 MHz Gęstość mocy S w zakresie częstotliwości: 300 MHz – 38 GHz Natężenie pola elektrycznego E w zakresie częstotliwości: 30 Hz – 38 GHz 2. Środowisko, środowisko komunalne Gęstość mocy S w zakresie częstotliwości: 300 MHz – 38 GHz Natężenie pola magnetycznego H w zakresie częstotliwości: 50 Hz – 3 MHz 3. 4. Środki spożywcze, woda, pasze Urządzenia stosowane w stomatologii – aparaty do zdjęć wewnątrzustnych Pomiar zawartość izotopu cezu 137 Wysokie napięcie Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Powtarzalność wartości czasu ekspozycji Dawka Dokumenty odniesienia A, N* 4. Metoda 5. PN-T-06580-3:2002 „Ochrona pracy w polach i promieniowaniu elektromagnetycznym o częstotliwości od 0 Hz do 300 GHz - Część 3: Metody pomiaru i oceny pola na stanowisku pracy” A pomiar bezpośredni rozporządzenie Ministra Środowiska z dnia 30 października 2003 roku w sprawie dopuszczalnych poziomów pól elektromagnetycznych w środowisku oraz sposobów sprawdzenia dotrzymania tych poziomów (Dz.U. Nr 192 poz. 1883) A pomiar bezpośredni PB/ŚR/R/01 wyd.III z dnia 22.02.2016 roku A spektrometria promieniowania gamma pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni z obliczeń PB/ŚR/R/02 wyd.III z dnia 22.02.2016 roku A pomiar bezpośredni Warstwa półchłonna (HVL) Wydajność lampy rentgenowskiej Powtarzalność wydajności lampy Wartość wydajności lampy w funkcji natężenia prądu z obliczeń Zmienność wydajności lampy przy zmianie obciążenia prądowo – czasowego 5. Monitory stosowane do prezentacji obrazów Pomiar luminancji Jednorodność monitora PB/ŚR/R/04 wyd.I z dnia 22.02.2016 roku A pomiar bezpośredni – metoda fotometryczna z obliczeń – WSSE w Szczecinie; OLS; Zał. nr 12 wyd. IV; z dnia 18.07.2016 r. do PO-02 L.p . 1. Przedmiot badań/wyrób 2. medycznych Badane cechy 3. Zgodność maksymalnej luminancji między monitorami strona /stron 2/3 Dokumenty odniesienia A, N* 4. Metoda 5. metoda fotometryczna Kontrast monitora Krzywa skali szarości 6. Urządzenia stosowane w radiografii ogólnej analogowej Wysokie napięcie Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka Warstwa półchłonna (HVL) Wydajność lampy rentgenowskiej Powtarzalność wydajności lampy Wartość wydajności lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy przy zmianie obciążenia prądowo – czasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość pomiędzy środkiem pola rentgenowskiego a środkiem rejestratora obrazu Odległość pomiędzy środkiem pola rentgenowskiego a środkiem krzyża pola świetlnego Odległość pomiędzy środkiem krzyża pola świetlnego a środkiem rejestratora obrazu w szufladzie Odległość pomiędzy polem promieniowania rentgenowskiego a polem uzyskanego obrazu dla kolimatorów z automatycznym ustawieniem pola Natężenie oświetlenia pola świetlnego symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Gęstość optyczna Różnica gęstości optycznej przy zmianie natężenia prądu Różnica gęstości optycznej przy zmianie wysokiego napięcia Różnica gęstości optycznej przy zmianie grubości fantomu Różnica gęstości optycznej – czułość pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni z obliczeń z obliczeń PB/ŚR/R/06 wyd.II z dnia 07.04.2016 roku A z obliczeń - pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego pomiar bezpośredni pomiar bezpośredni – metoda fotometryczna z obliczeń – metoda fotometryczna WSSE w Szczecinie; OLS; Zał. nr 12 wyd. IV; z dnia 18.07.2016 r. do PO-02 L.p . 1. 7. Przedmiot badań/wyrób Badane cechy 2. 3. Urządzenia stosowane w radiografii ogólnej cyfrowej komór AEC Odchylenie gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznej dla wszystkich kaset Gęstość minimalna w procesie wywoływania Wskaźnik światłoczułości w procesie wywoływania Wskaźnik kontrastowości w procesie wywoływania Luminancja negatoskopu Jednorodność luminacji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego na powierzchni negatoskopu Wysokie napięcie Dokładność ustawienia wysokiego napięcia Powtarzalność wartości wysokiego napięcia Zmienność wysokiego napięcia przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka Warstwa półchłonna (HVL) Wydajność lampy rentgenowskiej Powtarzalność wydajności lampy Wartość wydajności lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy przy zmianie obciążenia prądowo – czasowego Powtarzalność systemu AEC (powtarzalność dawki) Odchylenie wskaźnika ekspozycji przy zmianie grubości fantomu Czułość płyt obrazowych (CR) Wielkość ogniska Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość pomiędzy środkiem pola rentgenowskiego a środkiem uzyskanego obrazu Odległość pomiędzy środkiem pola rentgenowskiego a środkiem krzyża pola świetlnego Odległość pomiędzy środkiem krzyża pola świetlnego a środkiem uzyskanego obrazu Odległość pomiędzy polem promieniowania rentgenowskiego a polem świetlnym dla kolimatorów z ręcznym ustawieniem pola strona /stron 3/3 Dokumenty odniesienia A, N* 4. Metoda 5. pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni z obliczeń pomiar bezpośredni z obliczeń PB/ŚR/R/05 wyd.II z dnia 07.04.2016 roku A z obliczeń pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego WSSE w Szczecinie; OLS; Zał. nr 12 wyd. IV; z dnia 18.07.2016 r. do PO-02 L.p . 1. 8. Przedmiot badań/wyrób Badane cechy 2. 3. Odległość pomiędzy polem promieniowania rentgenowskiego a polem uzyskanego obrazu dla kolimatorów z automatycznym ustawieniem pola Natężenie oświetlenia pola świetlnego symulującego pole promieniowania rentgenowskiego strona /stron 4/3 Dokumenty odniesienia Metoda A, N* 4. 5. pomiar bezpośredni Środowisko pracy Moc dawki promieniowania jonizującego (X, ) PB/ŚR/R/07 wyd.I z dnia 22.02.2016 roku N Środowisko, środowisko komunalne Moc dawki promieniowania jonizującego (X, ) Pomiar skażeń powierzchni substancjami promieniotwórczymi alfa i beta PB/ŚR/R/07 wyd.I z dnia 22.02.2016 roku N pomiar bezpośredni pomiar bezpośredni pomiar bezpośredni *A metoda badawcza akredytowana , N- metoda nieakredytowana zakres akredytacji PCA nr AB 515 wyd. nr 20 z dnia 10.06.2016 roku . Data i podpis Kierownika Laboratorium 19.07.2016 r. Danuta Kuchta
