Cz*** 1

advertisement
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Część 1 – Dostawa niskotemperaturowego mikroskopu ze skanującą sondą
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
1.
Nazwa
Niskotemperaturowa głowica LT
STM/AFM do pracy temperaturach
helowych w warunkach UHV
2.
Elektroniczny układ kontroli i
rejestracji pomiarów STM i AFM,
3.
Układ kontroli temperatury
Parametry techniczne wymagane przez Zamawiającego
a). Głowica LT STM chłodzona poniżej 5K w układzie z kriostatem zalewowym He i osłoną z LN.
b). Zintegrowany, wymienny czujnik do bezkontaktowych pomiarów AFM z atomową
rozdzielczością w niskich temperaturach.
c). Czas pracy w temperaturze poniżej 5K bez uzupełniania He i LN nie mniej niż 48 godz.
d). STM i kriostat UHV kompatybilne i wygrzewalne w temperaturze nie niższej niż 425K.
e). Atomowa zdolność rozdzielcza STM. W kierunku Z < 0.005nm.
f). Polaryzacja ostrze STM – próbka w zakresie +/- 10V.
g). Możliwość skanowania STM z prądem tunelowym w zakresie od 1 pA do 200 nA.
h). Przedwzmacniacz STM z kompensacją prądu przesunięcia i prądu zerowego.
i). Skaner wyposażony w urządzenia do montowania czujnika AFM nc z minimalną amplitudą
drgań nie większą niż 10pm w temperaturach helowych.
j). Przedwzmacniacz AFM z pasmem przenoszenia nie mniejszym niż 200 kHz.
k). Zakres skanowania nie mniej niż 10 m x 10 m x 1 m w temperaturze pokojowej.
l). Zakres zgrubnego ustawienia ostrza nie mniej niż 5mm x 5 mm x10 mm.
m). Możliwość wymiany ostrza i próbki bez zapowietrzenia układu.
n). Możliwość montażu próbek o grubości do 5mm.
o). Możliwość przekładania próbki z chłodzonego manipulatora XYZ do głowicy STM/AFM
p). Dryf próbka –ostrze poniżej 1pm/godzinę.
q). Możliwość ogrzewania kasety próbki powyżej temperatury chłodzenia LH, co najmniej do 50K;
powyżej temperatury chłodzenia LN, co najmniej do 230K.
r). Możliwość szybkiej, w czasie poniżej 1 godziny, zmiany temperatury uchwytu próbki od
temperatur helowych do temperatury pokojowej.
s). Możliwość naparowania molekuł i atomów z dwóch źródeł na próbkę podczas skanowania
STM/AFM.
t). Możliwość usuwania ostrza z pola widzenia źródeł podczas naparowania na próbkę w głowicy
STM/AFM.
u). Wysokość aparatury ograniczona wysokością pomieszczenia h=3.15 m.
v). Szerokość zdemontowanej aparatury ograniczona szerokością drzwi laboratorium w=90 cm.
a). Układ kontroli i rejestracji z rozdzielczością nie gorszą niż 20 bitów. Możliwość pomiarów STM
topograficznych, prądowych i spektroskopowych. Układ kontroli i rejestracji pomiarów AFM.
b). Oprogramowanie pomiarowe.
Cyfrowy kontroler temperatury wraz z czujnikami temperatur kriogenicznych.
Parametry oferowanego towaru (wypełnia Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
4.
5.
Układ ultra-wysokiej próżni wraz z
systemami pompowymi i układem
sterowania
Komora analityczno-preparacyjna
6.
Manipulator próbek z systemem
chłodzenia próbki
7.
Źródła naparowania metali z
zasilaczami
8.
10.
11.
Działo jonowe do czyszczenia
powierzchni próbek z zasilaczem i
układem dozowania gazu
Układy zasilania, sterowania i
wygrzewania aparatury.
System izolacji wibracji
Dostawa:
12.
13.
Gwarancja:
Serwis:
14.
Instrukcja obsługi:
9.
Komora UHV mikroskopu z niemagnetycznej stali. Układ pompowy z pompami rotacyjną,
turbomolekularną, jonową i sublimacyjną.
Komora UHV z niemagnetycznej stali z zestawem portów typu CF i układem transferu próbek z
atmosfery. Możliwość transferu ostrzy STM i chłodzonych próbek pomiędzy komorą STM a komorą
preparacyjną.
Precyzyjny manipulator chłodzony He. Przesuw X,Y +/-12 mm, przesuw Z z komory analitycznopreparacyjnej do STM z możliwością utrzymania niskiej temperatury. Obrót próbki 360 deg. Próbka
ogrzewana prądowo (typu „flash”) prądem do 5A/40V (bez zasilacza). Próbka ogrzewana wiązką
elektronową. Próbka uziemiona.
2 źródła z tyglami grzanymi wiązką elektronów do naparowania metali i półprzewodników w
zakresie sub-monowarstwowych. Zasilacze źródeł z kablami. Możliwość precyzyjnego ustawienia
źródeł względem próbki w mikroskopie STM/AFM.
Energia jonów od 500 eV do 3 keV, prąd jonowy nie mniej niż 60 A, średnica wiązki w miejscu
próbki 10 mm. Regulowany rozmiar plamki jonów. Zasilacz z kablami. Układ dozowania gazów
szlachetnych z precyzyjnymi zaworami.
Zaopatrzony w układy sterowania i kontroli pomp, mierniki próżni oraz system grzejników i osłon
wraz z układami sterowania i kontroli wygrzewania aparatury.
Pneumatyczny system izolacji wibracji z automatycznym poziomowaniem.
W terminie do 8 miesięcy od daty uzgodnienia rysunków (uzgodnienie rysunków, potwierdzone
odpowiednim dokumentem, nastąpi po podpisaniu umowy przetargowej)
Minimum 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
(podjęcie działań naprawczych)
Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia)
wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego.
Bezpłatny w okresie gwarancji; co najmniej 5 lat po okresie gwarancyjnym
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą
Część 2 – Dostawa spektrometru fluorescencji rentgenowskiej
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu /
usługi
1) Moduł spektrometru
rentgenowskiego z
dyspersją długości fali
(WDS), z
wyposażeniem
analitycznym i
sterującym, wraz z
oprogramowaniem
Podzespół / układ
komponent
Konstrukcja
Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
Parametry graniczne urządzenia
 Spektrometr WDS musi wykorzystywać do przeprowadzania mikroanalizy rentgenowskiej
wiązkę elektronową dostarczaną przez układ analityczny, z którym musi być zintegrowany
sprzętowo i programowo
 Spektrometr WDS musi umożliwiać pełną integrację ze spektrometrem EDS na wspólnej
platformie analitycznej
Zakres analizowanych
pierwiastków
 Spektrometr WDS musi zapewniać detekcję pierwiastków co najmniej od boru (B) do
Układ detekcyjny
 Spektrometr WDS powinien być wyposażony w co najmniej dwa liczniki proporcjonalne:
plutonu (Pu)








zamknięty (szczelny) oraz przepływowy o dużej wydajności detekcji i dokładności w zakresie
niskich i wysokich energii promieniowania rentgenowskiego
Układ detekcyjny powinien być wyposażony przynajmniej w 4 wymienialne, wyginane
kryształy analizujące i zapewniać pomiar energii promieniowania rentgenowskiego co
najmniej w zakresie od 0,17 keV do 10,84 keV
Układ detekcyjny powinien umożliwiać rozszerzanie go o dodatkowe kryształy analizujące
Kryształy analizujące i detektor powinny być montowane na kole Rowlanda o średnicy
przynajmniej 200 mm i umożliwiać pomiary w geometrii  - 2 z kątami 2 w zakresie
przynajmniej od 35 do 135
Układ detekcyjny powinien być wyposażony w regulowaną szczelinę wejściową
umożliwiającą optymalizację energetycznej zdolności rozdzielczej
Rozdzielczość energetyczna: dla linii Kα Si powinna być nie gorsza niż 2 eV, dla linii Kα Fe
powinna być nie gorsza niż 25 eV
Stosunek zliczeń w maksimum wierzchołka Kα Si do zliczeń w tle powinien wynosić 2500 lub
więcej, dla linii Kα Fe - 500 lub więcej
Natężenie wierzchołka (zliczenia na sekundę/nanoamper) dla linii Kα Si powinno wynosić co
najmniej 500, dla wiązki elektronowej przyśpieszanej napięciem 20 kV
Natężenie wierzchołka dla linii Kα Fe powinno być nie mniejsze niż 1000 zliczeń na
sekundę/ nanoamper, przy napięciu przyśpieszającym wiązki 30 kV
Parametry oferowanego towaru (wypełnia Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Oprogramowanie
sterujące i analityczne
oraz tryby pracy
spektrometru WDS
 Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być przystosowane do pracy pod











kontrolą systemu operacyjnego o parametrach nie gorszych niż Windows Vista lub
równoważnego i wyposażone w ten system
Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być kompatybilne z aparaturą w
dostarczanej konfiguracji sprzętowej
Oprogramowanie dostarczone ze spektrometrem WDS musi zapewniać analizę jakościową
w trybie automatycznym i ręcznym
Wymagane są co najmniej następujące tryby zbierania danych i analizy składu
chemicznego w warstwie powierzchniowej badanej próbki: w punkcie, w obszarze
prostokątnym i eliptycznym (w trybie automatycznym) oraz w obszarze o dowolnym
kształcie w trybie definiowania przez operatora
Oprogramowanie spektrometru powinno zapewniać możliwość analiz bezwzorcowych
oraz przy użyciu wzorców
Wraz ze spektrometrem powinien być dostarczony przynajmniej jeden wzorzec do
kalibracji układu i rekalibracji analiz ilościowych
Oprogramowanie powinno posiadać funkcję mapowania rozkładu pierwiastków z opcją
stosowania automatycznych algorytmów usuwających efekty nakładania się wierzchołków
oraz odejmowania tła w czasie analizy i z możliwością zapisu obrazu z maksymalną
rozdzielczością elektroniczną nie gorszą niż 4000  4000 pikseli. Każdy zapisywany piksel
mapy powinien zawierać informacje o widmie promieniowania rentgenowskiego
pochodzącego z odpowiedniego, wzbudzonego punktu powierzchni analizowanej
Oprogramowanie powinno umożliwiać zapis obrazów, widm rentgenowskich i map
rozkładu pierwiastków w co najmniej dwóch z następujących formatów: *.bmp, *.gif,
*.jpg, *.jpeg, *.png, *.tif lub *.tiff
Oprogramowanie analityczne powinno zapewniać wybieraną przez operatora wstępną i w
realnym czasie korekcję dryfu wiązki analizującej
Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać operatorowi zdefiniowanie zestawu
pierwiastków analizowanych przy pomocy spektrometru WDS lub WDS i EDS w czasie
równoczesnego korzystania z obydwu spektrometrów
Oprogramowanie analityczne powinno zawierać opcję mapowania fazowego,
umożliwiającego rozseparowanie i oddzielną analizę faz o różnym składzie chemicznym
Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać wykonywanie ilościowych analiz wzdłuż
linii o zadawanej przez operatora liczbie punktów
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
2) Moduł spektrometru
rentgenowskiego z
dyspersją energii
(EDS) wraz z
wyposażeniem
analitycznym i
sterującym oraz
oprogramowaniem
Konstrukcja
 Spektrometr EDS musi wykorzystywać do przeprowadzania mikroanalizy rentgenowskiej
wiązkę elektronową o natężeniu co najmniej dostarczaną przez układ analityczny, z którym
musi być zintegrowany sprzętowo i programowo
 Spektrometr EDS musi umożliwiać pełną integrację ze spektrometrem WDS na wspólnej
platformie analitycznej
Zakres analizowanych
pierwiastków
 Spektrometr EDS musi zapewniać detekcję pierwiastków co najmniej od berylu (Be) do
Układ detekcyjny
 wyposażony w detektor krzemowy typu SDD o powierzchni czynnej równej co najmniej 10
plutonu (Pu)





mm2
zastosowany detektor nie powinien wymagać chłodzenia ciekłym azotem
gwarantowana rozdzielczość energetyczna detektora SDD (najlepiej określona według
normy ISO 15632:2012) nie może być gorsza niż:
- dla linii K manganu - 129 eV,
- dla linii K węgla - 57 eV,
- dla linii K fluoru - 67 eV
gwarantowana stabilność rozdzielczości (przesunięcie wierzchołka) w zakresie
dynamicznym co najmniej od 1000 do 100 000 zliczeń na sekundę nie większe niż 1 eV
wyposażony w programową korekcję spiętrzania impulsów przy dużych szybkościach
zliczania
maksymalna ilość kanałów rejestrowanych widm rentgenowskich – co najmniej 4096
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Oprogramowanie
sterujące i analityczne
oraz tryby pracy
spektrometru EDS
 Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być przystosowane do pracy pod











kontrolą systemu operacyjnego Windows Vista lub wyższego i wyposażone w ten
system
Oprogramowanie sterujące i analityczne powinno być kompatybilne z aparaturą w
dostarczanej konfiguracji sprzętowej
Oprogramowanie dostarczone ze spektrometrem EDS musi zapewniać analizę
jakościową w trybie automatycznym i ręcznym
Wymagane są co najmniej następujące tryby zbierania danych i analizy składu
chemicznego w warstwie powierzchniowej badanej próbki: w punkcie, w obszarze
prostokątnym i eliptycznym (w trybie automatycznym) oraz w obszarze o dowolnym
kształcie w trybie definiowania przez operatora
Oprogramowanie spektrometru powinno zapewniać możliwość analiz bezwzorcowych
oraz przy użyciu wzorców
Wraz ze spektrometrem powinien być dostarczony przynajmniej jeden wzorzec do
kalibracji układu i rekalibracji analiz ilościowych
Oprogramowanie powinno posiadać funkcję mapowania rozkładu pierwiastków z opcją
stosowania automatycznych algorytmów usuwających efekty nakładania się
wierzchołków oraz odejmowania tła w czasie analizy i z możliwością zapisu obrazu
z maksymalną rozdzielczością elektroniczną nie gorszą niż 4000  4000 pikseli. Każdy
zapisywany piksel mapy powinien zawierać informacje o widmie promieniowania
rentgenowskiego pochodzącego z odpowiedniego, wzbudzonego punktu powierzchni
analizowanej
Oprogramowanie powinno umożliwiać zapis obrazów, widm rentgenowskich i map
rozkładu pierwiastków w co najmniej dwóch z następujących formatów: *.bmp, *.gif,
*.jpg, *.jpeg, *.png, *.tif lub *.tiff
Oprogramowanie analityczne powinno zapewniać wybieraną przez operatora wstępną i
w realnym czasie korekcję dryftu wiązki analizującej
Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać operatorowi zdefiniowanie zestawu
pierwiastków analizowanych przy pomocy spektrometru EDS lub WDS i EDS w czasie
równoczesnego korzystania z obydwu spektrometrów
Oprogramowanie analityczne powinno zawierać opcję mapowania fazowego,
umożliwiającego rozseparowanie i oddzielną analizę faz o różnym składzie chemicznym
Oprogramowanie analityczne powinno umożliwiać wykonywanie ilościowych analiz
wzdłuż linii o zadawanej przez operatora liczbie punktów
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
3)
Platforma do
instalacji
spektrometrów
WDS i EDS
(skaningowy
mikroskop
elektronowy SEM)
ze zmienną próżnią
z wyposażeniem
analitycznym i
sterującym wraz z
oprogramowaniem
Konstrukcja
 Komora próbek o średnicy wewnętrznej co najmniej 230 mm, wyposażona w przynajmniej 10


















portów do instalacji spektrometrów, detektorów do tworzenia obrazów w optyce elektronowej i
innych opcjonalnych urządzeń
Przestrzeń dostępna dla umieszczania próbek, co najmniej 150 mm (średnica)  60 mm
(wysokość)
Komora powinna być wyposażona w zmotoryzowany w pięciu osiach ( x, y, z, pochylenie i obrót)
stolik dla próbek, zapewniający regulację położenia co najmniej w zakresie 80 mm w płaszczyźnie
X, 60 mm w płaszczyźnie Y , 40 mm w płaszczyźnie Z, kątów pochylenia od -80 do +80 oraz
obrót o kąt pełny
komora próbki musi być wyposażona przynajmniej w pneumatyczny układ tłumienia drgań
przekazywanych z podłoża
Możliwe tryby pracy, co najmniej:
- w wysokiej próżni, nie gorszej niż 102 paskala (Pa)
- w średniej próżni, w zakresie przynajmniej od 10 do 150 Pa
- w niskiej próżni, co najmniej od 10 do 500 Pa
Układ wyposażony we własny dwustopniowy układ pomp próżniowych, z pompą rotacyjną
próżni wstępnej i turbomolekularną próżni wysokiej
Układ powinien zapewniać możliwość automatycznego przełączania różnych trybów
próżniowych pracy bez konieczności zapowietrzania komory
Układ próżniowy platformy powinien zapewniać możliwość różnicowego pompowania
pozwalającego wprowadzać w przypadku próbek nieprzewodzących w obszar próbki gazu pod
ciśnieniem wystarczającym do kompensacji efektu ładowania się próbki ładunkiem elektrycznym
Źródło analizującej wiązki elektronowej z katodą wolframową lub LaB6
Natężenie elektronowej wiązki analizującej wiązki regulowane w zakresie co najmniej od 1
pikoampera (pA) do
2 mikroamperów (A)
Zakres maksymalnych energii elektronów regulowany, od co najmniej 200 V do 30 kV
Układ ogniskowania elektronowej wiązki analizującej wyposażony w magnetyczne soczewki
elektronowe bez apertur mechanicznych wymagających centrowania i z możliwością wyłącznie
elektronicznej płynnej regulacji efektywnej średnicy wiązki
Układ skanowania wiązką elektronową powinien posiadać możliwość regulowania szybkości
przemiatania co najmniej w zakresie od 20 nanosekund (ns) do 10 milisekund (ms) na piksel
Układ skanowania powinien być wyposażony w układ korygowania pochylenia badanej
powierzchni
Rozdzielczość elektroniczna zapisywanych obrazów elektronowych nie powinna być gorsza niż
8192  8192 piksele
Powinien być możliwy zapis obrazów co najmniej w dwóch z następujących formatów: *.bmp,
*.tiff, *.png, *.gif, *.jpeg, *.jpg, pgm , ppm.
platforma analityczna powinna być wyposażona w układ pomiaru prądu próbki
Układ powinien wyposażony w przynajmniej dwa detektory, do rejestracji elektronów wtórnych
(SE) oraz elektronów wstecznie rozproszonych (BSE)
Powinna być przewidziana możliwość usuwania detektora BSE z wiązki
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Tryby pracy
i obrazowania
badanych powierzchni
 Możliwość uzyskiwania obrazów co najmniej w optyce elektronów wtórnych (SE) i
rozproszonych wstecznie (BSE)
 Możliwość uzyskiwania obrazów powierzchni analizowanych próbek w optyce
elektronowej z rozdzielczością przestrzenną nie gorszą niż:
- 3,0 nanometry (nm) przy energii wiązki elektronowej 30 keV, w trybie wysokiej próżni
- 3,5 nanometra (nm) przy energii wiązki 30 keV, w trybie średniej i niskiej próżni
 Możliwość uzyskiwania obrazów powierzchni próbek nieprzewodzących, bez konieczności
metalizowania ich powierzchni
 Możliwość osiągania obrazów w optyce elektronowej z płynnie regulowanym
powiększeniem, co najmniej w zakresie od 5 do 1 000 000
 Możliwość optymalizacji uzyskiwanych obrazów pod kątem co najmniej maksymalnej
rozdzielczości i maksymalnej głębi obrazu
 Możliwość programowego wybierania fragmentów próbki przy małym powiększeniu do
obserwacji przy dużym powiększeniu
 Możliwość obserwacji całej próbki i podglądu komory próbki przy bardzo małym
powiększeniu
Dodatkowe parametry,
cechy i wyposażenie
 Układ ogniskowania i układ próżniowy nie powinny wymagać chłodzenia cieczą
 Układ powinien być wyposażony w alarm uprzedzający o zetknięcia się stolika z
elementami komory
 Układ powinien być wyposażony w dedykowaną kamerę CCD do podglądu komory,
ułatwiającą bezpieczne manipulowanie próbką
 Zewnętrzna pompa próżniowa umieszczona w specjalnie do tego przeznaczonej obudowie
wyciszającej, która zawiera wbudowane wentylatory zapewniające właściwe chłodzenie
pompy oraz układ pomiaru temperatury pracy pompy próżniowej
 zintegrowany system analityczny powinien być wyposażony w co najmniej dwa komputery
PC z monitorami LCD o przekątnej ekranu przynajmniej 22’’
 zintegrowany system analityczny powinien być wyposażony w dodatkowy, niezależny od
sterowania programowego, panel sterujący z pokrętłami regulacyjnymi i wyświetlaczem
LCD
 w skład zestawu powinien wchodzić stół przystosowany do ustawienia aparatury i
komputerów
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
4) Szkolenie w obsłudze i
konserwacji
aparatury




wykonanie pomiarów kontrolnych pola magnetycznego w pomieszczeniu pracowni
spektrometrii rentgenowskiej Instytutu Fizyki UMCS
doradztwo w kwestii przystosowania pomieszczenia pracowni do instalacji zestawu
spektrometrów i platformy analitycznej
co najmniej 3 dniowe szkolenie w trakcie realizacji dostawy, instalacji i uruchomienia
dodatkowe szkolenie aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi spektrometru i
użytkowania oprogramowania w terminie uzgodnionym przez strony (nie później niż po
3-4 tygodniach od daty instalacji, co najmniej 4-dniowe dla 3 osób w siedzibie
Zamawiającego
Dostawa
Do 18 tygodni (126 dni) od daty zawarcia umowy
Gwarancja
co najmniej 24 miesiące od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis
Bezpłatny serwis gwarancyjny i co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny zapewniony przez
Dostawcę.
Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia
usterki (podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Wymagania dodatkowe
Wymagane przez Zamawiającego
Zamawiający nie dopuszcza składania ofert częściowych w obrębie części 2. Akceptowane będą tylko oferty spełniające wyszczególnione powyżej
wymagania.
Instrukcję obsługi, warunki bezpieczeństwa pracy, podstawową dokumentację techniczną oferowanych w zestawie urządzeń, zawierającą
najważniejsze parametry techniczne i użytkowe (w wersji papierowej lub elektronicznej w języku polskim) Wykonawca winien dostarczyć wraz z
dostawą.
Oferowane przez Wykonawcę
Odbiór aparatury
Wymagane przez Zamawiającego
Instalacja aparatury na miejscu u Użytkownika.
Wykonawca gwarantuje, że zaoferowana aparatura jest kompletna i będzie po zainstalowaniu gotowa do podjęcia pracy bez żadnych dodatkowych
zakupów i inwestycji (poza materiałami eksploatacyjnymi).
Wykonawca gwarantuje sprawne funkcjonowanie spektrometrów WDS i EDS zainstalowanych na platformie analitycznej łącznie z ich
wyposażeniem analitycznym i sterującym oraz oprogramowaniem, a także wykazanie wszystkich oferowanych parametrów technicznych, co
będzie podstawą protokołów odbioru aparatury i usług.
Oferowane przez Wykonawcę
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Część 3 – Dostawa kriostatu helowego z chłodziarką
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu / urządzenia
/ systemu – liczba sztuk
Kriostat Mössbauerowski
z chłodziarką helową 4 K
pracującą w obiegu
zamkniętym wraz z
wyposażeniem
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Kriostat Mössbauerowski
Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
Nazwa
Wymiar/jednostka
Sposób chłodzenia
próbka chłodzona w środowisku gazu wymiennego
(chłodzona statyczna kolumna par helu), w
dwustopniowym cyklu Gifforda-MacMahona (G-M)
Nominalny zakres temperatur
gwarantowana podstawowa temperatura nie
wyższa niż 4,5 K, oczekiwana 4,2 K lub niższa (po
wyeliminowaniu pasożytniczych
eksperymentalnych i radiacyjnych obciążeń
cieplnych)
Górna granica temperatur
roboczych
co najmniej 300 K
Możliwość szybkiej wymiany próbki
bez ogrzewania głowicy zimnej do
temperatury otoczenia
tak (czas schładzania po wymianie próbki od
temperatury pokojowej do około 5 K + nie dłuższy
niż 5 minut)
Przybliżony czas schładzania od
temperatury pokojowej do
temperatury 5 K
około 2,5 godziny
Kształt i stan skupienia materiału
próbki
dowolny, w tym próbki proszkowe, ciekłe oraz
próbki ze złym przewodnictwem cieplnym
Ładowanie próbki
od góry, próbka
Mocowanie próbki
Optyczny uchwyt próbki, bez bezpośredniego
kontaktu z „zimnym palcem” chłodziarki
Zespół uchwytu i pozycjonowania
próbki
umożliwiający obrót próbki wokół osi pionowej i jej
przesuwanie w pionie
Komora próbki
 całkowita średnica nie mniejsza niż 38 mm;
 wyposażona w dwa okienka w geometrii 180°
wykonane z aluminizowanego Mylaru,
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
berylowe lub równoważne, zapewniające
minimalne poszerzenie linii w widmie
Mössbauerowskim, o średnicy nie mniejszej niż
19 mm
 płaszcz próżniowy z dwoma okienkami z Mylaru
lub berylu, o średnicy nie mniejszej niż 25 mm
Połączenie z układem próżniowym
poprzez zawór próżniowy wyposażony we flansze
KF-25 (NW -25) lub równoważne
Wyposażenie dodatkowe
zintegrowany manometr do pomiaru ciśnienia w
komorze próbki
Mocowanie kriostatu
poprzez elastyczny mieszek antywibracyjny do
statywu z pneumatyczną lub inną izolacją
wibracyjną od podłoża, dostępnego jako opcja
standardowa
Orientacyjna amplituda wibracji
zlokalizowanych w pobliżu drugiego
stopnia chłodziarki (mogących
przenieść się na próbkę)
 wzdłuż osi podłużnej - nie większa niż 20
mikrometrów
 w kierunku poprzecznym do osi podłużnej – nie
większa niż 5 mikrometrów
Orientacyjna amplituda drgań
próbki
co najwyżej 50 nm (nanometrów)
Poszerzenie linii Mössbauerowskich
powodowane pracą chłodziarki
poniżej (0,007 ± 0,002) mm/s dla najbardziej
wewnętrznych linii sekstetu mierzonych w zakresie
prędkości ± 2 mm/s dla folii alfa-Fe o grubości
około 25 mikrometrów, przy temperaturze
pokojowej, z wykorzystaniem linii 14,4 keV żelaza
Fe-57 ze źródła Co-57
Możliwość łatwego
przemieszczania w laboratorium
tak
Możliwość mocowania do statywu
dodatkowych półek pod źródło
Mössbauerowskie i detektor
(licznik proporcjonalny, detektor
tak
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
scyntylacyjny)
Zestaw chłodziarki
helowej 4 K – głowica
zimna
Zestaw chłodziarki
helowej 4 K – sprężarka
Inne wymagania
 co najmniej jeden 10. wtykowy przepust
elektryczny umieszczony w pobliżu próbki
 co najmniej dwa zapasowe 10. wtykowe
przepusty elektryczne w obudowie kriostatu
Model głowicy zimnej
dwustopniowa pracująca w cyklu GiffordaMacMahona (G-M)
Tryb pracy
zamknięty obieg helu
Wydajność chłodzenia głowicy
zimnej (przy zasilaniu napięciem o
częstotliwości 50 Hz)
 nie mniejsza niż 3 W przy 50 K na pierwszym
stopniu chłodzenia
 nie mniejsza niż 0,5 W przy temperaturze 4,2 K
na drugim stopniu chłodzenia
Minimalna osiągalna temperatura
głowicy zimnej
przynajmniej 3,5 K (bez obciążenia cieplnego)
Długość giętkiego przewody
gazowego chłodziarka - kriostat
co najmniej 10 m
Utrata zdolności chłodzącej przy
dowolnej orientacji przestrzennej
głowicy zimnej
nie większa niż 20 %
Czas pomiędzy przeglądami
serwisowymi głowicy zimnej
nie krótszy niż 10 000 godzin
Zasilanie
trójfazowe lub jednofazowe z sieci 230 V AC
50/60 Hz
Długość przewodu zasilania
sieciowego głowicy zimnej
co najmniej 6 m
Długość giętkich przewodów
gazowych (zasilającego i
zwrotnego) między głowicą zimną
i sprężarką
co najmniej 10 m każdy
Czas pomiędzy przeglądami
serwisowymi sprężarki
nie krótszy niż 20 000 godzin
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Kontroler temperatury
Zasilanie elektryczne
z sieci trójfazowej 3 x AC 200 V/50 Hz
Zużycie energii (z sieci 50 Hz)
 ustalone: nie większe niż 2,8 kW
 maksymalne: nie przekracza 3,3 kW
Długość przewodu zasilania
sieciowego sprężarki
co najmniej 5 m
Chłodzenie sprężarki
wodne
Zużycie wody chłodzącej
nie większe niż 200 litrów/ godzina
Zakres temperatur roboczych
co najmniej od 4 °C do 28 °C
Podłączenie wody chłodzącej
sprężarkę
końcówka 3/8 cala NPT „męska” do węża o
średnicy ½ cala
Materiały dodatkowe
gazowy hel wysokiej czystości w ilości
wystarczającej do napełnienia objętości roboczej
sprężarki
Liczba niezależnych wejść do
podłączenia czujników temperatury
co najmniej 4
Liczba niezależnych wyjść
pomiarowych
co najmniej 4
Rodzaje akceptowanych czujników
temperatury




diody półprzewodnikowe
czujniki rezystancyjne ( RTD)
czujniki termistorowe (NTC)
termopary
Zakres mierzonych temperatur
co najmniej od 300 mK (milikelwinów) do 1500 K,
z odpowiednimi czujnikami temperatury (NTC RTD)
Wyświetlane jednostki
K (kelwiny), °C, V, mV i 
Rozdzielczość cyfrowa wyświetlanej
temperatury
 co najmniej 0,0001° w zakresie od 0° do 99,9999°
 co najmniej 0,001° w zakresie od 100° do
999,999°
 co najmniej 0,01° w zakresie powyżej 1000°
Automatyczne przełączanie wejść
tak
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
pomiarowych pełnym zakresie
pomiarowym
Automatyczna kompensacja
niepewności dla czujników
rezystancyjnych powodowanych
występowaniem siły
termoelektrycznej (thermal EMF)
tak
Regulator proporcjonalno-całkująco- tak, dwie pętle:
różniczkujący (PID)
 100 W dla obciążenia 50  (omów) lub 25 
 50 W dla obciążenia 50  (omów) lub 25 
Czujnik temperatury
Strojenie automatyczne
tak
Możliwość przypisania czujnikom
wyjść na wyświetlaczu
tak
Zasilanie:
z sieci jednofazowej 240 V/50 Hz
Rozdzielczość cyfrowa/napięciowa
nie gorsza niż 16 bitów/0,3 mV
Szumy pomiarowe
poniżej 0,3 mV RMS
Wyświetlacz
LCD co najmniej 240 x 64 pikseli, z podświetleniem
LED
Zakres temperatury otoczenia
 co najmniej od 5°C do 40 °C (przy obniżonej
dokładności)
 co najmniej od 15°C do 35 °C (przy standardowej
dokładności)
Dodatkowe wyposażenie
 interfejsy Ethernet, USB, IEEE-488
 dwie grzałki o mocach elektrycznych co najmniej
50 W I 25 W
Typ
Dioda krzemowa (Si)
Zakres mierzonych temperatur:
co najmniej od 1,5 K (kelwina) do 500 K
Praca w silnym polu magnetycznym
co najmniej w zakresie od 70 K do 500 K
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Układ próżniowy do
kriostatu
Kalibracja
zamontowany do uchwytu próbki w kriostacie
Mössbauerowskim i wykalibrowany wraz z
kontrolerem temperatury
Typ/budowa układu
układ bezolejowy, wyposażony w pompę próżni
wstępnej oraz pompę turbomolekularną, budowa
zintegrowana, układ bezobsługowy
Wydajność pompowania układu
nie gorsza niż 50 litrów/sekundę
Czas uzyskiwania próżni
1105 milibara (w objętości roboczej około 14
litrów) - nie dłuższy niż 400 sekund
Osiągany poziom próżni (ciśnienia
bazowego)
nie gorszy niż 1108 milibara przy stosowaniu złącz
próżniowych typu KF/NW/ISO i 1109 milibara przy
stosowaniu złącz próżniowych typu CF
Połączenie próżniowe
z odpompowywanym układem
(kriostatem)
poprzez złącze z flanszą typu ISO-63, za pomocą
elastycznego mieszka próżniowego ze stali
nierdzewnej o długości co najmniej 1,5 m,
kompatybilne z kriostatem
Wyposażenie w dodatkowe
elementy próżniowe
dołączone dodatkowe elementy próżniowe (zawór,
redukcja, trójnik, szybkozłączki, uszczelki,
pierścienie centrujące itp.) umożliwiające
wykonanie podłączeń z układem
odpompowywanym i próżniomierzem, a także
odłączanie układu próżniowego od objętości
roboczej
Układ pomiaru próżni
tak, ze zintegrowaną głowicą próżniomierza
pozwalającą na pomiar w całym zakresie
uzyskiwanych ciśnień, wyświetlacz cyfrowy
Zakres mierzonych ciśnień
co najmniej od ciśnienia atmosferycznego aż do
5109 milibara ( 5107 paskala (Pa))
Możliwość normalnej pracy układu
pompy z odłączonym
próżniomierzem:
tak
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Dostawa
Gwarancja
Serwis
Instrukcja obsługi
Zasilanie
z sieci jednofazowej 220-240 VAC 50/60 Hz
Pobór mocy z sieci
maksymalnie do 260 woltoamperów (VA)
Dopuszczalny zakres temperatur
otoczenia
co najmniej od 5 °C do 35 °C
Temperatura wygrzewania układu
próżniowego
nie niższa niż 80 °C przy stosowaniu złącz
próżniowych typu KF/NW/ISO
Możliwość sterowania układem za
pomocą komputera PC
tak, poprzez złącze szeregowe RS232C lub USB,
dołączone oprogramowanie do obsługi
Pozycja robocza
dowolna
Podstawa układu:
Płyta wyposażona w podkładki amortyzujące, np. z
gumy
Do 20 tygodni (140 dni) od daty zawarcia umowy
Minimum 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny dostawcy lub producenta. Bezpłatny serwis gwarancyjny; co najmniej 5-letni
serwis pogwarancyjny
Czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki (podjęcie działań
naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia)
wliczany jest do przedłużonego okresu gwarancyjnego.
Elektroniczna i papierowa w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą
Część 4 – Dostawa wieloparametrycznego spektrometru anihilacyjnego
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
PODZESPÓŁ A
Wieloparametryczny
spektrometr anihilacyjny
– część detekcyjna
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Głowica scyntylacyjna (3
szt.)
Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
nazwa
wymiar
Fotopowielacz:

średnica /powierzchnia aktywna fotokatody

typ katody

użyteczny zakres długości fal

długość fal w maksimum czułości

wydajność





51 mm/46 mm
bialkaliczna
160-650 nm
~420 nm
min. 80 mA/W
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru

materiał okna

czułość świetlna katody

czułość świetlna anody

wzmocnienie

„prąd ciemny”

czas narastania impulsu

typ wyjścia
Dzielnik napięcia:

typ







kwarcowe
min. 80 μA/lm
min. 200 A/lm
min. 2,5 x 106
maks. 110 mV
~0,7 ns
prądowe



wyjścia
zasilanie


dostosowany do fotopowielacza
wg specyfikacji producenta
dynodowe i anodowe (BNC)
wejście wysokiego napięcia
(SHV)
Przedwzmacniacz:

typ


napięcie zasilania

czas narastania impulsu
Obudowa:

Konstrukcja




mocowanie
Scyntylator:

materiał

średnica

wysokość

wykończenie





do współpracy z 14-nóżkowymi
fotopowielaczami o średnicy 2”,
zintegrowany z dzielnikiem
napięcia
12 V
< 50 ns
z ekranem magnetycznym,
pozwalająca na wymianę
scyntylatorów,
niewymagane, możliwość
zamocowania za pomocą
pierścienia obejmującego
detektor
kryształ BaF2
38,1 mm
25,4 mm
każda strona optycznie
polerowana, góra i boki
pokryte/otoczone warstwą
odbijającą, obudowa
dostosowana do głowicy
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Zasilacz wysokiego napięcia
do detektorów
scyntylacyjnych (3 szt.)


standard modułu
napięcie wyjściowe





natężenie prądu
wskaźnik napięcia, natężenia, polaryzacji
szumy na wyjściu





długoterminowa niestabilność napięcia
zabezpieczenie na wypadek przeciążenia lub
zwarcia



Detektor germanowy
koaksjalny (2 szt.)



zewnętrzne sterowanie napięciem
wyjściowym
wydajność względna
zdolność rozdzielcza (FWHM)






stosunek fotowierzchołek/ Compton
FWTM/FWHM
FWFM/FWHM
kriostat
przedwzmacniacz ładunkowy
wyjście testowe do diagnostyki








pierwszy stopień wzmocnienia
zabezpieczenie w przypadku wzrostu prądu
upływu detektora




dewar
średnica zewnętrzna obudowy kryształu
wyposażenie dodatkowe






scyntylacyjnej
NIM
płynna regulacja od 0 do +/3000 V
do min. 10 mA
na panelu czołowym
< 10 mV szczyt-szczyt przy
maksymalnym obciążeniu
< 0,01%/godzinę
automatyczne z funkcją
przywrócenia napięcia po
ustaniu przyczyny przeciążenia
wbudowane
min. 25 % dla linii 1,33 MeV
maks. 1,80 keV dla 1,33 MeV,
maks. 0,9 eV dla 122 keV
min 54:1
1.9
2.65
poziomy
niskoszumowy
pozwalające na wyznaczenie
prądu upływu detektora
FET chłodzony i zabezpieczony
diodą
układ współpracujący z
zasilaczem i wymuszający zdjęcie
wysokiego napięcia
30 l
maks. 3” (76 mm)
zestaw kabli do podłączenia
detektora
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Zasilacz wysokiego napięcia
do detektorów HPGe (2
szt.)


standard modułu
napięcie wyjściowe





natężenie prądu
wskaźnik napięcia i polaryzacji
szumy





długoterminowa niestabilność
zabezpieczenia


NIM
płynna regulacja od 0 do +/- 6000
V
do 0,3 mA
na panelu czołowym
< 3 mV szczyt-szczyt przy
maksymalnym obciążeniu
zasilacza
< 0,01%/godzinę
zabezpieczenie przed
natychmiastowym podaniem
wysokiego napięcia,
zabezpieczenie wyłączające
wysokie napięcie po otrzymaniu
sygnału świadczącego o wzroście
prądu upływu, zabezpieczenie
uniemożliwiające podanie
wysokiego napięcia po
przeciążeniu/zwarciu
Dostawa
Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy
Gwarancja
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
(podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z
dostawą
Instrukcja obsługi
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Digitizer (3 szt.)
PODZESPÓŁ B
Wieloparametryczny
spektrometr
anihilacyjny
– część akwizycyjna













Digitizer (1 szt.)











Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
nazwa
wymiar
Rozdzielczość

min. 10 bit
Standard

Compact PCI
rozmiar

1 slot cPCI
liczba kanałów

min.2
pasmo przenoszenia

min. 2 GHz
częstotliwość próbkowania

min. 4Gs/s na kanał
wbudowana pamięć

min. 128 M-pkt na kanał
impedancja wejściowa

50 Ohm
zakres napięć wejściowych

50mV – 5V
typ złącz wejściowych

BNC
konektory

Konektory pozwalające na połączenie ze sobą
digitizerów w celu synchronizacji czasowej
zabezpieczenia

Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe (surge
do 5kV), na każdy kanał
kompatybilność

Współpracujące z oprogramowaniem
(dołączonym lub dostępnym nieodpłatnie)
pozwalającym na uzyskanie informacji czasowej
ze zdigitalizowanych impulsów anodowych z
głowicy scyntylacyjnej i dostosowanym do
pomiarów Positron Annihilation Lifetime
Spectroscopy (PALS)
Rozdzielczość

min. 12 bit
Standard

Compact PCI
rozmiar

1 slot cPCI
liczba kanałów

min.2
pasmo przenoszenia

min. 300GHz
częstotliwość próbkowania

min. 400Ms/s
wbudowana pamięć

min. 8Mpts na kanał
impedancja wejściowa

50 Ohm
zakres napięć wejściowych

250mV – 10V
typ złącz wejściowych

BNC, SMA
konektory

Konektory pozwalające na połączenie ze sobą
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Kaseta (1 szt.)
Komputer (1 szt.)

zabezpieczenia


kompatybilność















standard
standard mocowania
rozmiar
Liczba gniazd
Zasilacz
Uchwyt do mocowania w
szafie RACK
Interfejs komunikacyjny
obudowa

płyta główna



pamięć
procesor x 2



kontroler RAID


dysk twardy x4



digitizerów w celu synchronizacji czasowej
Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe, na
każdy kanał
Współpracujące z oprogramowaniem
(dołączonym lub dostępnym nieodpłatnie)
pozwalającym na uzyskanie informacji czasowej
ze zdigitalizowanych impulsów anodowych z
głowicy scyntylacyjnej i dostosowanym do
pomiarów Positron Annihilation Lifetime
Spectroscopy (PALS)
Compact PCI
RACK
4U
4
400W
Dla kasety 5 slotowej
cPCI – PCIe z kablem 5 m
do zabudowy w szafie typu RACK, z możliwością
instalacji kart rozszerzeń
na 2 procesory wielordzeniowe, z min. 2 slotami
PCIe x8, karta sieciowa GbiE
min 32 GB
każdy procesor winien osiągać średnią wydajność
na poziomie minimum 11000 punktów w teście
Passmark CPU Mark
(http://www.cpubenchmark.net/high_end_cpus.
html), wsparcie dla x64, SSE 4.1/4.2, AVX 2.0
w standardzie PCIe, sprzętowa obsługa RAID 0, 1,
6, 0+1, 1+0
każdy o pojemności 1 TB, 10000RPM, NCQ, 64 MB
cache
Dostawa
Gwarancja
Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
(podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą
Instrukcja obsługi
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
PODZESPÓŁ C
Komora pomiarowa z
oprzyrządowaniem
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Komora próżniowa reaktor
System pompowy
Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
nazwa
wymiar

typ pomiarów

próbka w atmosferze gazów bez wpływu
czynników zewnętrznych w żądanej
temperaturze i ciśnieniu

budowa

dwie części: wewnętrzne kielichy gazowe
oraz komora główna stanowiąca płaszcz
próżniowy zapewniający izolację próbki od
czynników zewnętrznych

ciśnienie w komorze głównej

maks. 10-5mbar
możliwe do osiągnięcia podczas
trwania eksperymentu w
kielichach gazowych

zakres ciśnień w kielichach

od 10-5 do 2000 mbar
gazowych

usytuowanie układu detekcyjnego 
tuleje w komorze głównej umożliwiające
PALS
zbliżenie na odległość max 30 mm od
środka próbki dwóch liczników
scyntylacyjnych o średnicy 40 mm,
ułożonych względem siebie pod kątem
90°, pozostających na zewnątrz komory

ciśnienie minimalne

maks. 10-5mbar

pompy

turbomolekularna, olejowa pompa próżni
wstępnej z pułapką zeolitową

zawory

elektromagnetyczne: bezpieczeństwa i
zapowietrzający z podłączeniami

sterowania pomp

mikroprocesorowa jednostka sterująca
pracą pomp (wizualizacja pracy pomp,
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru

odpompowanie kielichów
gazowych






zakres pracy od 2000 mbar do 5x10-9mbar

głowica próżni wstępnej
głowica pomiarowa ciśnienia
wewnątrz komory głównej
głowica pomiarowa ciśnienia
wewnątrz kielichów gazowych
(Dopuszcza się rozwiązanie z
zastosowaniem większej liczby
głowic pokrywający zadany zakres
pracy)
odczyt ciśnień
zaworów próżniowych, pomiar próżni w
dwu kanałach),zabezpieczenia przed
zanikiem napięcia zasilania, wyłączeniem
wody chłodzącej
do poziomu próżni umożliwiającej ich
bezpieczne otwarcie bez konieczności
wyłączania pompy turbo utrzymującej
próżnię w komorze głównej
dopasowana do układu pompowego
zakres pracy od 1000 mbar do 5x10-9mbar

Układ dozowania gazów

sposób dozowania gazów

Nośnik próbek









Zasilacz

rozmiary próbki
typ próbki
położenie
zakres temperatur próbki
umieszczanie nośnika wraz z
próbką komorze
funkcja
typ układ pomiaru i regulacji
temperatury
programy zmian temperatury
funkcja
funkcja

elektroniczny, zintegrowany ze
sterowaniem systemem pompowym
automatyczny z możliwością sterowania
szybkością nacieku
średnica 8 mm i wysokość 6mm
lita lub proszkowa (szczelne zamknięcie)
w kielichach gazowych
od maks. –80°C (schładzanie za pomocą
ciekłego azotu) do min. 650°C, pomiar
temperatury
rezystancyjne grzanie próbki w pełnym
zakresie oferowanych temperatur
z regulatorem PID
Układ pomiaru próżni


Stelaż
Kable oraz połączenia
próżniowe
Dostawa



Do 6 miesięcy od daty zawarcia umowy




stała wartość oraz rampa temperaturowa
stabilne ustawienie komory
zestaw umożliwiający wykorzystanie
wszystkich możliwości komory
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Gwarancja
Serwis
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
(podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z
dostawą
Instrukcja obsługi
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
PODZESPÓŁ D
Wysokociśnieniowy
układ pomiarowy
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Prasa hydrauliczna
Parametr / funkcja
nazwa





wymiar





min. 20 t
w dolej płycie
min. 80 mm
min. 160 bar
min. 180 mm/ 500 mm/ 320mm







Nacisk
Siłownik
Skok siłownika
Maksymalne ciśnienie robocze
Wysokość/szerokość/głębokość
robocza
rozmiar płyty dolnej
przednia osłona
docisk
dokładność odczytu siły nacisku
dokładność przesunięcia tłoczyska
odczyt na panelu sterującym
analiza parametrów pracy








sterowanie ręczne

480 x 370 mm
przezroczysty poliwęglan
śrubowy od góry ,regulowany z blokadą
maks. ±0,2 % zakresu
maks. ±0,5 % zakresu
nacisk (T, Kg, KN) ciśnienie(MPa, bar)
odczyt, zapis i eksport, prezentacja na
wykresie w czasie rzeczywistym
za pośrednictwem panelu sterującego
(ręczne) – możliwość wprowadzenia kilku
punktów cyklu, w postaci nastawu: siły i
czasu do nowej wartości zadanej (punktu)
a następnie automatyczne utrzymywanie
zadanej wartości, aż do końca
ustawionego czasu (min. kilka godzin) lub
nowego punktu cyklu, wstępne
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru

Dostawa
Gwarancja
Serwis
sterowanie zdalne

ustawienie(wysuw /powrót tłoczyska),
ograniczenie maksymalnej wartości
nacisku
z komputera podłączonego przez USB lub
Ethernet – dołączone oprogramowanie
sterujące oraz sterowniki lub informacje o
protokole komunikacji umożliwiające
napisanie własnego oprogramowania
sterującego
Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki. Czas na
podjęcie działań naprawczych: maksymalnie 14 dni. Maksymalny czas na naprawę 30 dni;
okres naprawy (przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego
okresu gwarancyjnego.
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą
Instrukcja obsługi
Część 5 – Dostawa spektrometru opóźnionych koincydencji
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
PODZESPÓŁ A
Spektrometr
opóźnionych
koincydencji
– część detekcyjna
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Głowica scyntylacyjna (2
szt.)
Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
nazwa
wymiar
Fotopowielacz:

średnica /powierzchnia aktywna
fotokatody

typ katody

użyteczny zakres długości fal

długość fal w maksimum czułości

wydajność

materiał okna

czułość świetlna katody

czułość świetlna anody

51 mm/46 mm







bialkaliczna
160-650 nm
~420 nm
min. 80 mA/W
kwarcowe
min. 80 uA/lm
min. 200 A/lm
Parametry oferowanego towaru (wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Zasilacz wysokiego
napięcia do detektorów
scyntylacyjnych (2 szt.)

wzmocnienie: nie mniej niż

„prąd ciemny”

czas narastania impulsu

typ wyjścia
Dzielnik napięcia:

typ




min. 2,5 x 106
maks. 110 mV
~0,7 ns
prądowe


wyjścia

zasilanie
Przedwzmacniacz:

typ


dostosowany do fotopowielacza wg
specyfikacji producenta
dynodowe i anodowe (BNC)
wejście wysokiego napięcia (SHV)

napięcie zasilania

czas narastania impulsu
Obudowa:

Konstrukcja




mocowanie


Scyntylator:

materiał

średnica

wysokość

wykończenie













standard modułu
napięcie wyjściowe
natężenie prądu
wskaźnik napięcia, natężenia,
polaryzacji
szumy na wyjściu

do współpracy z 14-nóżkowymi
fotopowielaczami o średnicy 2”,
zintegrowany z dzielnikiem napięcia
12 V
< 50 ns
z ekranem magnetycznym, pozwalająca
na wymianę scyntylatorów,
niewymagane, możliwość zamocowania
za pomocą pierścienia obejmującego
detektor
kryształ BaF2
38,1 mm
25,4 mm
każda strona optycznie polerowana, góra i
boki pokryte/otoczone warstwą
odbijającą, obudowa dostosowana do
głowicy scyntylacyjnej
NIM
płynna regulacja od 0 do +/- 3000 V
do min. 10 mA
na panelu czołowym
< 10 mV szczyt-szczyt przy maksymalnym
obciążeniu
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru


< 0,01%/godzinę




długoterminowa niestabilność
napięcia
zabezpieczenie na wypadek
przeciążenia lub zwarcia
zewnętrzne sterowanie napięciem
wyjściowym
standard modułu
tryb pracy
zakres dynamiczny

niestabilność czasowa








niestabilność progów
nieliniowość całkowa
rozdzielczość impulsów
częstość impulsów na wejściu
wejście
sprzężenie
amplituda impulsów wejściowych








czas trwania impulsów
wejściowych
wyjście

automatyczne z funkcją przywrócenia
napięcia po ustaniu przyczyny
przeciążenia
wbudowane
NIM
normalny CFD lub różnicowy CFD
trybie normalny min. 700:1, trybie
różnicowy min. 300:1
max. 60 ps dla zakresu dynamicznego
100:1
max. ±0,02 %/oC
max. ±0.25%
max. 10 ns
do 100 MHz
BNC, 50 ohm
stałoprądowe
impulsy ujemne od max. 5 mV do min. 3,5
V w trybie normalnym
min. 1ns


Dyskryminator
31stałofrakcyjny (2 szt.)








ujemne impulsy prądowe, czas narastania
ok. 2 ns minimalny czas trwania impulsu
max. 5 ns, dodatnie impulsy napięciowe,
wyjścia dodatnie i ujemne
jednokanałowego analizatora amplitudy
na panelu czołowym
Dostawa
wskaźnik odzwierciedlający
częstość zliczeń
Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy
Gwarancja
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
(podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Instrukcja obsługi
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z
dostawą
PRODUCENT: …………………………………………………………………..………….. MODEL: ……………………………………………..………………………. ROK PRODUKCJI: ………………….
Nazwa aparatu /
urządzenia / systemu
PODZESPÓŁ B
Spektrometr
opóźnionych
koincydencji
– część akwizycyjna
Podzespół / komponent /
układ [opis]
Digitizer (2 szt.)













Parametr / funkcja – wymagane przez Zamawiającego
nazwa
wymiar
Rozdzielczość

min. 10 bit
Standard

Compact PCI
rozmiar

1 slot cPCI
liczba kanałów

Min. 2
pasmo przenoszenia

min. 2 GHz
częstotliwość

min. 4 Gs/s na kanał
próbkowania
wbudowana pamięć

min. 128 Mpkt na kanał
impedancja wejściowa

50 Ohm
zakres napięć wejściowych 
50mV – 5V
typ złącz wejściowych

BNC
konektory

Konektory pozwalające na połączenie ze sobą
digitizerów w celu synchronizacji czasowej
zabezpieczenia

Przeciwprzepięciowe, wysokonapięciowe (surge do
5kV), na każdy kanał
kompatybilność

Współpracujące z oprogramowaniem (dołączonym
lub dostępnym nieodpłatnie) pozwalającym na
uzyskanie informacji czasowej ze zdigitalizowanych
impulsów anodowych z głowicy scyntylacyjnej i
dostosowanym do pomiarów Positron Annihilation
Lifetime Spectroscopy (PALS)
Parametry oferowanego towaru (Wypełnia
Wykonawca)
Załącznik nr 9 do SIWZ
Opis oferowanego towaru
Kaseta (1 szt.)
Komputer (1 szt.)












Compact PCI
RACK
3U
2
400W
Dla kasety 3 slotowej


standard
standard mocowania
rozmiar
Liczba gniazd
Zasilacz
Uchwyt do mocowania w
szafie RACK
Interfejs komunikacyjny
obudowa



płyta główna



pamięć
procesor x2



kontroler RAID


dysk twardy x4

cPCI – PCIe z kablem 5 m
do zabudowy w szafie typu RACK, z możliwością
instalacji kart rozszerzeń
na 2 procesory wielordzeniowe, z min. 2 slotami
PCIe x8, karta sieciowa GbiE
min 32 GB
każdy procesor winien osiągać średnią wydajność
na poziomie minimum 11000 punktów w teście
Passmark CPU Mark
(http://www.cpubenchmark.net/high_end_cpus.ht
ml), wsparcie dla x64, SSE 4.1/4.2, AVX 2.0
w standardzie PCIe, sprzętowa obsługa RAID 0, 1, 6,
0+1, 1+0
każdy o pojemności 1 TB, 10000RPM, NCQ, 64 MB
cache
Dostawa
Do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy
Gwarancja
min. 12 miesięcy od daty podpisania protokołu odbioru
Serwis
bezpłatny serwis gwarancyjny oraz co najmniej 5-letni serwis pogwarancyjny. Czas reakcji
serwisu w okresie gwarancyjnym: maksymalnie 72h od momentu zgłoszenia usterki
(podjęcie działań naprawczych). Maksymalny czas na naprawę 30 dni; okres naprawy
(przestój aparatury od momentu zgłoszenia) wliczany jest do przedłużonego okresu
gwarancyjnego.
Drukowana lub elektroniczna w języku polskim lub angielskim dostarczona wraz z dostawą
Instrukcja obsługi
Download