Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań
instrumentalnych
Wykład XI
•
Techniki chromatograficzne
•
Termograwimetria i różnicowa analiza termiczna
•
Analizy składu pierwiastkowego LIBS, SIMS, PIXE,
XRF, SEM-EDX
Chromatografia
• Chromatografia jest to technika rozdzielania lub
badania składu mieszanin chemicznych.
• Rozdział substancji następuje w wyniku
przepuszczenia roztworu badanej substancji
(eluantu) przez odpowiednio spreparowaną fazę
stacjonarną (fazę rozdzielczą).
• Podczas przepływu eluentu przez fazę rozdzielczą
następuje proces wymywania zaadsorbowanych
substancji.
• Czas przebywania danego składnika w kolumnie
chromatograficznej nazywany jest czasem retencji.
Chromatografia bibułowa
• Fazą stacjonarną w tej technice jest bibuła
chromatograficzna. Faza ruchoma przemieszcza
się w jednolitej strukturze celulozy bibuły.
• Stosowana
do
rozdziału
aminokwasów
pochodzących z hydrolizy protein, kwasów
tłuszczowych pochodzących z olejów oraz jonów
metali pochodzących z pigmentów.
• Wypierana przez chromatografię
cienkowarstwową.
Chromatografia cienkowarstwowa
• Faza stacjonarna – warstwa adsorbentu (gips, żel
krzemionkowy, ziemia okrzemkowa, tlenek glinu,
węglan magnezu, celuloza, żywica poliamidowa)
o grubości 0,1-0,3 mm nałożona na podłoże.
• Substancja przeznaczona do rozdziału nanoszona
jest w postaci małej plamki w takiej odległości,
aby po włożeniu płytki do komory nie była
zanurzona w eluencie.
• Siły kapilarne powodują przepływ eluentu przez
fazę stacjonarną i rozprowadzanie z różną
prędkością składników analizowanej mieszaniny.
Chromatografia cienkowarstwowa
Chromatografia cienkowarstwowa
Chromatografia cienkowarstwowa
W momencie zakończenia rozdziału składniki próbki zlokalizowane są w różnych
odległościach od miejsca naniesienia. Niektóre rozdzielone związki barwne widoczne są w
świetle widzialnym jako barwne plamy. Wynik rozdziału większości związków
organicznych możemy stwierdzić dopiero w świetle UV. Często, aby je uwidocznić, należy
potraktować chromatogram odpowiednimi odczynnikami, dającymi z analizowanymi
związkami reakcje barwne (np. parami jodu).
Chromatografia cienkowarstwowa
Rozdział barwników czarnego atramentu
Chromatografia gazowa
• Fazę ruchomą stanowi gaz nośny (zwykle H2 lub
He).
• Fazę stacjonarną stanowią ciało stałe lub ciecz,
naniesione na ścianę kolumny (rurka kwarcowa o
średnicy od 0,1 – 0,5 mm).
• Poszczególne składniki, opuszczając w różnym
czasie kolumnę, trafiają kolejno do detektora
mierzącego ich stężenia lub natężenia masowego
przepływu w gazie nośnym.
Chromatografia gazowa
Chromatografia gazowa
Chromatografia gazowa
Chromatografia gazowa
Technika GC MS
• Technika GC MS polega na połączeniu
chromatografii gazowej (GC) ze
spektroskopią masową (MS).
• W spektrometrze masowym zachodzi
jonizacja cząsteczek analizowanych
związków i ich rozpad na charakterystyczne
fragmenty, o właściwym stosunku masy do
ładunku.
Technika GC MS
Układ pomiarowy do chromatografii gazowej ze spektrometrem masowym GC-MS
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
Technika GC MS
Chromatogram GC MS próbki polichromii. Zidentyfikowane składniki: estry etylowe
(derywatyzacja) kwasów : Pim - pimelinowego, Sub - suberynowego, Aze - azelainowego, Seb
- sebacynowego, Pal - palmitynowego i Ste - stearynowego. Interpretacja: olej lniany.
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
Technika GC MS
Chromatogram ukazujący wyniki pomiarów próbki pobranej z warstwy czerwonej.
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
Technika GC MS
Chromatogram ukazujący wyniki pomiarów próbki pobranej z warstwy błękitnej.
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń, 2009
HPLC
• HPLC – High Performence Liquid
Chromatography, wysokosprawna chromatografia
cieczowa.
• Fazę stałą stanowi ciało stałe (chromatografia
adsorbcyjna) lub rzadziej ciecz osadzona na
nośniku (chromatografia podziałowa).
• Fazą ruchomą jest ciecz (rozpuszczalnik lub
mieszanina rozpuszczalników) wprowadzana do
kolumny pod wysokim ciśnieniem.
HPLC
Układ pomiarowy do chromatografii HPLC. Najczęściej stosowanymi detektorami są detektory
fotometryczne, działające na zasadzie absorpcji światła ultrafioletowego (UV) lub
ultrafioletowego i widzialnego (UV-VIS).
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
HPLC
Chromatogram HPLC próbki polichromii. W badaniu zastosowano detekcję spektrometryczną UV-Vis. Na wykresie
zarejestrowano sygnały przy 485 nm (linia czerwona) i 650 nm (linia niebieska). Zidentyfikowane składniki: Ali - alizaryna,
Pur - purpuryna, Ind – indygotyna. Interpretacja: marzanna barwierska i indygo.
Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł
ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
Termograwimetria (TGA)
• TGA – Thermogravimetric Analysis.
• Rejestrujemy zmianę masy próbki w funkcji
temperatury.
• Metodą tą bada się proces oddziaływania
próbki z gazem wypełniającym komorę
próbki oraz procesy chemicznego rozkładu
próbki pod wpływem temperatury.
Termograwimetria
próbka
masa
elektroniczny mechanizm wagi
programator
temperatury
piec
Analizator termograwimetryczny
firmy Perkin Elmer TGA7
ciężarek
tarujący
Schemat układu do analiz TGA. Zakres
temperatur – od temperatury pokojowej do
1200 °C. Wymagane masy próbek wynoszą
od 1 do 300 mg.
Krzywa analizy termograwimetrycznej
Stopniowy rozkład dwuwodnego szczawianu wapnia, który początkowo traci wodę, potem CO a
następnie CO2 przekształcając się w tlenek wapnia. Towarzyszy temu spadek masy próbki.
Krzywa analizy termograwimetrycznej
Rozkład termiczny pięciokrotnie uwodnionego siarczanu miedzi
Różnicowa analiza termiczna (DTA)
• DTA – Differential Thermal Analysis
• W metodzie tej rejestruje się w funkcji
temperatury różnicę temperatur pomiędzy próbką
a materiałem odniesienia.
• Temperatury zmienia się od ciekłego azotu do
1600 °C. Masy próbek wynoszą do 0,1 mg do 100
mg.
• Krzywe DTA umożliwiają rejestrację przemian
fazowych, np. topnienia materiału, zmian
pojemności cieplnej wskutek przemian
chemicznych.
Różnicowa analiza termiczna (DTA)
próbka
wzmacniacz
rejestrator
XY
termostat
programator
temperatury
materiał odniesienia
Schemat aparatury do pomiarów DTA. Rejestrowana jest różnica
temperatury próbki i materiału odniesienia w funkcji temperatury
próbki. Tę ostatnią mierzy termopara, której drugie spojenie jest
umieszczone w mieszaninie wody z lodem.
Różnicowa analiza termiczna (DTA)
Aparatura do pomiarów DTA.
Krzywa pomiarowa DTA
Przykładowe krzywe pomiarowe DTA. Na osi rzędnych znajdują
się wskazania różnicy temperatur próbki i materiału odniesienia.
Maksima i minima odpowiadają zachodzeniu reakcji egzo- i
endotermicznej.
TGA i DTA
• W praktyce często łączy się technikę TGA oraz
DTA.
• Technika TGA/DTA ma zastosowanie w
identyfikacji faz krystalicznych wchodzących w
skład próbek tynków, ocenę jakości wapna
użytego do zapraw oraz przebieg procesów jej
wiązania i twardnienia.
• Charakterystyki zapraw budowlanych są istotne
przy dokonywaniu rozwarstwień
chronologicznych faz budowy obiektów
architektonicznych
DTA [°C]
TG [mg]
TGA i DTA tynku
0
-1
DTG [mg]
820
0.5
800
TG
-2
0.0
780
-3
-4
DTG
760
-0.5
-5
740
-6
-1.0
DTA
-7
720
-8
700
-9
-10
680
-1.5
-2.0
-11
660
-12
-2.5
-13
640
-14
620
-15
-16
-3.0
600
Tynk 1. Badanie wykonano 20.08.2002 r.
Próbka 800 mg porównywana z tlenkiem glinu (500 mg).
Piec 1000. Prędkość ogrzewania 10°C/min. Pomiar od 23°C do 1021°C.
Zmiana masy w zakresie 24°C ÷ 1021°C: 231,58 mg
-17
-18
-3.5
580
-19
560
0
100
200
300
400
500
Temperatura [°C]
600
700
800
900
1000
DEGER Sp. z o.o.
Laboratorium Rentgenowskie
Pomiar i opracowanie wykonał
Jarosław Sylwisty
-4.0
Analizy składu pierwiastkowego
• LIBS – Laser Induced Breakdown Spectroscopy
(wzbudzana laserowo spektroskopia emisyjna).
• SIMS – Secondary Ion Mass Spectrosopy
(spektroskopia mas jonów wtórnych).
• PIXE – Particle Induced X-Ray Emission
(rentgenowska analiza spektralna ze wzbudzaniem
cząstkami naładowanymi).
• XRF – X-Ray Fluorescence (fluorescencja
rentgenowska).
LIBS
plazma wzbudzana laserowo
laser impulsowy
zbieranie sygnału
emisji atomowej
•
Identyfikacja na podstawie
położenia linii emisyjnych.
•
Natężenie linii emisyjnych
daje informacje o
koncentracji atomów
danego pierwiastka
światłowód
detektor
spektrometr
Wzbudzana laserowo spektroskopia emisyjna
LIBS – ceramika
Epoka minojska (czarny
pigment na bazie Fe)
Epoka bizantyjska (czarny
pigment na bazie MnO)
LIBS – warstwy malarskie
Picasso – Panny z Awinionu (1907)
Obecność Ti wskazuje na zastosowanie
TiO2, białego pigmentu, który stał się
komercyjnie dostępny dopiero w 1916
roku.
SIMS
powielacz
elektronów
jony rozproszone
działko jony pierwotne
jonowe
analizator energii
elektrostatycznej
Spektroskopia mas jonów wtórnych
Układ do spektroskopii SIMS
SIMS
Wiązka pierwotna zawiera
zwykle jony Cs+, O2+, Ar+ o
energiach od 1 do 30 keV. Jony
pierwotne penetrują próbkę na
głębokość 10 nm.
Z materiału próbki wybijane są
jony wtórne pierwiastków
wchodzących w skład próbki
Spektroskopia mas jonów wtórnych
SIMS
• Głębokość, z jakiej uzyskujemy informacje o
składzie – do 2 µm.
• Rozdzielczość powierzchniowa – 1 mm.
• Rozdzielczość głębokościowa – 10 nm.
• Rozdzielczość masowa – 1 atomowa jednostka
masy dla Z > 40.
• Czułość: 1015 atomów N na cm2, 1010 atomów Au
na cm2.
• Możliwe wykonywanie analiz ilościowych i
profili głębokościowych.
SIMS – przykład zastosowania
Obraz SIMS przekroju
poprzecznego drewna pokrytego
warstwą ochronną lakieru.
Warstwa lakieru uwidoczniona jest
na niebiesko, drewna na brązowo.
http://www.azom.com.details.asp?articleD=2665
PIXE
Przyspieszone cząstki
naładowane (zwykle protony)
wybijają elektrony z
wewnętrznych powłok
elektronowych atomów próbki.
Powtórnemu zapełnianiu powłok
towarzyszy emisja
promieniowania
rentgenowskiego. Widmo takiego
promieniowania zawiera
maksima charakterystyczne dla
atomów próbki.
Rentgenowska analiza spektralna ze wzbudzaniem
cząstkami naładowanymi
PIXE
Rozpraszanie protonu z emisją
charakterystycznego
promieniowania rentgenowskiego
Widmo promieniowania rentgenowskiego.
Natężenie charakterystycznych linii zależy m.
in. od koncentracji atomów danego
pierwiastka.
PIXE
Wiązka protonów w powietrzu. Niebieska poświata jest
spowodowana oddziaływaniem protonów z atomami powietrza.
Analizy PIXE nie muszą być wykonywane w próżni.
PIXE – rzeźba polichromowana
Technika PIXE jest stosowana w
badaniach rzeźby polichromowanej,
której celem jest identyfikacja
pigmentów.
Po lewej – analiza PIXE
mezoamerykańskiej figurki.
Larry Lam, Applications for PIXE and other ion beam analysys (IBA), PIXE PAN Summer
Science Program, University of Notre Dame, June 2007
PIXE – warstwy malarskie
PIXE jest metodą stosowaną do
określania pochodzenia warstw
malarskich. Wykrycie
współczesnych składników
pigmentów pozwala na
stwierdzenie autentyczności dzieła.
Larry Lam, Applications for PIXE and other ion beam analysys (IBA), PIXE PAN Summer
Science Program, University of Notre Dame, June 2007
PIXE - ceramika
Badania zabarwionego na czerwono i czarno fragmentu ceramiki.
Widoczne wyraźne różnice w charakterze widm PIXE.
Larry Lam, Applications for PIXE and other ion beam analysys (IBA), PIXE PAN Summer
Science Program, University of Notre Dame, June 2007
PIXE - grafika
A. Dürer, Portret młodej i starej
kobiety, Chantilly, inv. 891
Grafiki przypisywane Dürerowi.
Analizy PIXE potwierdziły
pochodzenie tych dzieł.
A. Dürer, Siedzący biskup i portret
mężczyzny, Berlin KdZ 34
PIXE – historyczne dokumenty
Analizy PIXE atramentu
używanego przez Galileusza
pozwoliły na określenie
chronologii wydarzeń
historycznych.
Larry Lam, Applications for PIXE and other ion beam analysys (IBA), PIXE PAN Summer
Science Program, University of Notre Dame, June 2007
XRF – fluorescencja rentgenowska
• Skład pierwiastkowy określa się na podstawie
analizy emitowanego wtórnie promieniowania
rentgenowskiego.
• Emisja promieniowania następuje na skutek
wzbudzania promieniowaniem rentgenowskim o
tak dobranej długości fali, by była możliwa
jonizacja najcięższego z poszukiwanych
pierwiastków.
• Energia i natężenie wtórnego promieniowania X
(fluorescencji rentgenowskiej) zawiera informacje
o występujących pierwiastkach oraz ich składzie
procentowym.
Lampa rentgenowska
okienko berylowe
ekran
katoda
chłodzenie wodą
do transformatora
anoda
próżnia
antykatoda
promieniowanie
rentgenowskie
bańka szklana
włókna wolframowe
elektrony
Elektrony emitowane z rozgrzanej katody są przyspieszane w polu elektrycznym i
ogniskowane na tarczy metalowej (antykatoda). Promieniowanie X emitowane z
antykatody wychodzi przez okienka berylowe. Doświadczalnie stwierdzono, że
maksimum promieniowania rentgenowskiego otrzymuje się pod kątem 10º w
stosunku do antykatody, co determinuje miejsce montowania okienek berylowych.
Lampa rentgenowska
Zasada wytwarzania promieniowania ciągłego (białego)
rozproszony elektron (w
wyniku rozproszenia
wytracił prędkość oraz
zmienił kierunek ruchu)
jądro
szybki elektron
atom antykatody
kwant promieniowania X
W zależności od rodzaju zderzenia, szybkie elektrony tracą różne ilości energii.
Dlatego energia promieniowania rentgenowskiego ma widmo ciągłe. Minimalną
długość kwantów promieniowania wyznaczamy ze wzoru
λmin =
hc
12,4
=
[A ].
eV V [kV]
Zasada wytwarzania promieniowania charakterystycznego
e–
fotoelektron
e–
kwant Kα
e–
kwant Lα
elektron
K
L
M
kwant Kβ
Jeżeli energia elektronów jest wystarczająca do wzbudzenia elektronów z głębszych
poziomów energetycznych atomów materiału antykatody, powstaje promieniowanie
rentgenowskie wykazujące dyskretny rozkład długości fal (promieniowanie
charakterystyczne).
Fluorescencja rentgenowska
Nomenklatura linii emisyjnych
M
L
Lα1
Kα1
V
I
III
K
I
Kα2
Lβ1
Kβ1
Serię widmową promieniowania oznacza się dużą literą określającą powłokę, na
którą przechodzi elektron. Jeżeli przejście zachodzi pomiędzy sąsiednimi powłokami
atomu, wówczas odpowiadającą mu linię oznacza się symbolem α. Symbol β stosuje
się wówczas, gdy przejście elektronowe zachodzi między dalszymi poziomami
energetycznymi.
Rodzaje urządzeń do pomiarów XRF
Spektrometry z rozdzielczością długości fali
• Zasada rejestracji widma fluorescencji analogiczna jak w
aparatach dyspersyjnych do pomiarów widm fluorescencji
wzbudzanej UV lub absorpcji w podczerwieni.
Źródło
promieniowania
X
Selektor
długości fali
Próbka
Detektor
Spektrometry z rozdzielczością energii
• Brak analogii ze spektroskopią dyspersyjną.
• Rejestracja widma następuje wprost na podstawie rozkładu
energii promieniowania charakterystycznego
Źródło
promieniowania
X
Próbka
Detektor
Analizatory z rozdzielczością
energetyczną (ED XRF)
• Wykorzystywane przede wszystkim w
urządzeniach do pomiarów fluorescencji
rentgenowskiej (ED XRF), w których nie jest
wymagana duża zdolność rozdzielcza oraz w
mikroskopii skaningowej.
• Detektorem jest płytka krzemowa domieszkowana
litem, często chłodzona ciekłym azotem.
• Kwant promieniowania X wywołuje powstanie
pary elektron-dziura, czemu towarzyszy
rejestracja impulsu o natężeniu proporcjonalnym
do energii kwantu promieniowania.
Analizatory z rozdzielczością
energetyczną (ED XRF)
detektor – wafel krystalicznego krzemu domieszkowany litem
Analizatory z rozdzielczością
energetyczną (ED XRF)
kryształek
Crystal
tranzystor polowy
Window
(I stopień wzmocnienia)
okienko berylowe
kolimator
Budowa detektora EDS (energy dispersive spectroscopy)
Analizatory z rozdzielczością
energetyczną (ED XRF)
zbiornik na ciekły azot
Budowa detektora EDS (energy dispersive spectroscopy)
Analizatory z rozdzielczością
długości fali (WD XRF)
• Elementem dyspersyjnym rozdzielającym promieniowanie
rentgenowskie jest kryształ o ściśle określonej strukturze.
“Próbka”
(źródło promieniowania X)
Odbicie następuje, gdy:
Detektor
nλ = 2d sin θ
sin θ =
nλ
2d
θ
Kryształ rozszczepiający charakterystyczne
promieniowanie rentgenowskie
θ
Całkowity kąt = 2θ
Porównanie analizy WD i ED
Analizatory WD – lepsza czułość,
rozdzielczość energetyczna oraz
dokładność analiz ilościowych.
Porównania analizy WD i ED
• Spektrometry z analizatorem ED są tańsze i
szybsze.
• Analizatory WD mają lepszą rozdzielczość,
czułość (od 0,01% wagowego).
• Próg detekcji w aparatach ED XRF stanowi
bor (Z = 11).
• Próg detekcji w aparatach WD XRF
stanowi beryl (Z = 9)
Spektrometry ED XRF
Stacjonarny spektrometr XRF.
Przenośny spektrometr XRF
dostępny dla konserwatorów i
badaczy dzieł sztuki w Instytucie
Maszyn Przepływowych PAN w
Gdańsku.
XRF – polichromie ścienne
Widmo XRF warstwy malarskiej z XIII wiecznej polichromii z
Kościoła NMP na Zamku w Malborku. Obecność Pb, Cu, Ca oraz
Fe wskazuje na stosowanie azurytu oraz bieli ołowiowej.
Raport końcowy z realizacji Specjalnego Programu Badawczego „Konserwacja dzieł sztuki za pomocą laserów – analiza
średniowiecznego malarstwa ściennego przy użyciu technik spektroskopowych i chemicznych do celów konserwacji ”
XRF – werniks skrzypiec
detektor
szczelina reflektor
próbka
lampa rentgenowska
Skrzypce Andrea Guarneri z Kremony.
Skład werniksu: olej, żywica, wosk.
Domieszki nieorganicznych substancji
wpłynęły na kolor werniksu i twardość.
Na podstawie analizy XRF stwierdzono
obecność 20 pierwiastków. Fe, As oraz
Pb wchodzą w skład pigmentów. Zn,
Cu, Pb pochodzą od substancji
schnących w oleju.
XRF - atramenty
Gerard Śliwiński, Lasery w diagnostyce i analizie dla potrzeb konserwacji zabytków, IMP PAN w Gdańsku
XRF – malarstwo olejne
Rynek sztuki zalewany jest podróbkami dzieł wybitnych twórców XX
w., takich jak Modigliani, Picasso, Matisse, ...
Widmo XRF wskazuje na zastosowanie
błękitu ceruleum (CoO·n·SnO2). Pigment ten
nie był nigdy stosowany przez Modiglianiego.
(Fałszerstwo?)
Technika SEM EDX
• Technika SEM-EDX polega na sprzężeniu
spektrometru ED XRF z elektronowym
mikroskopem skaningowym (skrót od scaning
electron microscopy – energy dispersive X-ray
fluorescence).
• Rozwiązanie to pozwala na uzyskiwanie map
rozkładu powierzchniowego pierwiastków z
rozdzielczością przestrzenną około 1 µm.
• Źródłem wzbudzania fluorescencji rentgenowskiej
są elektrony przyspieszane w kolumnie
mikroskopu o energiach od 5 do 30 keV.
• Elektrony penetrują próbkę do głębokości około 1
µm. Z takiej warstwy uzyskujemy informacje o
składzie pierwiastkowym.
Technika EDX SEM
Głębokość penetracji ~ 1 µm
Schemat mikroskopu skaningowego
Wiązka mikroskopu skaningowego
skanując badaną powierzchnię wzbudza
jednorazowo tylko niewielki fragment
preparatu, z którego zbierany jest sygnał
fluorescencji promieniowania X przez
energorozdzielczy detektor. W ten
sposób uzyskuje się mapę rozkładu
pierwiastków na badanej powierzchni.
detektor promieniowania X
Technika EDX-SEM
Różnica pomiędzy spektrometrami XRF a spektrometrami SEMEDX polega na sposobie wzbudzania fluorescencji rentgenowskiej.
W tej ostatniej technice jest ona wzbudzana przez
wysokoenergetyczne elektrony.
EDX SEM – warstwy malarskie
Obraz SEM EDX przekroju poprzecznego warstwy malarskiej polichromii
ściennej. Obszar występowania Cu pokrywa się z warstwą błękitną (azuryt).
Wielkość i kształt cząstek zawierających wapń wskazuje na domieszkę gipsu. W
warstwie stwierdzono śladowe ilości żelaza.
EDX SEM – warstwy malarskie
Obraz SEM EDX przekroju poprzecznego warstwy malarskiej polichromii ściennej.
Wierzchnia warstwa zawiera niewielki dodatek żółcieni cynowo-ołowiowej. W
spodniej warstwie widoczne jest nierównomierne rozłożenie pigmentu miedziowego.
Obecność ołowiu wskazuje na zastosowanie bieli ołowiowej.
EDX SEM – warstwy malarskie
a) elektrony
rozpraszane
wstecznie;
b) Au;
c) Ba;
d) Ca
Obraz SEM EDX przekroju poprzecznego warstwy malarskiej olejnej.
„Lilie” Cloude’a Moneta
Miejsce pobrania próbki 1 & 2
Fluorescencja rentgenowska
Obraz BSE SEM
Widmo fluorescencji rentgenowskiej
cps/eV
25
20
15
O Zn
S Ba
Si
C
Na Al
Ca
S
Ca
Ba
Zn
10
5
0
2
4
6
8
10
keV
12
14
16
18
20
Skład pierwiastkowy
El AN
Series unn.
C norm.
[wt.%]
[wt.%]
------------------------------------------C 6 K-series
20.54
22.41
O 8 K-series
37.22
40.61
Na 11 K-series 3.61
3.94
Al 13 K-series 1.61
1.75
Si 14 K-series
1.38
1.51
S 16 K-series
3.39
3.70
Ca 20 K-series 0.35
0.38
Zn 30 K-series 15.81
17.25
Ba 56 L-series
7.74
8.44
------------------------------------------Total:
91.65
100.00
C Atom.
[at.%]
C Error
[%]
36.27
49.34
3.33
1.26
1.04
2.24
0.19
5.13
1.19
2.5
5.0
2.5
0.1
0.1
0.2
0.0
0.4
0.2
100.00
Wniosek – biel cynkowa (ZnO) do bieli barytowej BaSO4 występuje w
proporcji wagowej 1,6 : 1,0.
Cloude Monet „Lilie” - próbka 5
Stratygrafia – obraz BSE SEM
Mapa pierwiastków (SEM/EDX) – próbka 5
C
Al
O
Si
Na
Mg
S
K
Ca
Ti
Cr
Zu
Zn
Pb
Fe
C
Mapa pierwiastków (SEM/EDX) – próbka 5