Załącznik nr 2 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Nr A120-211

Załącznik nr 2
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Nr A120-211-190/10/JC
(o nie gorszych parametrach niż podane poniżej)
CZEŚĆ
1
PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
Jednostka Organizacyjna
UG
Czas
realizacji
Zestaw do pomiarów
Zakład Spektroskopii
8 tygodni
struktury krystalicznej
Fazy Skondensowanej
/gwarancja
metodą kątowo-
Instytutu Fizyki
rozdzielczej dyfrakcji
Doświadczalnej
rok
promieni X
2
3
Spektrofluorymetr
Zakład Spektroskopii
12 tygodni /
UV/VIS/ NIR, detektory
Fazy Skondensowanej
gwarancja
NIR, układ do liczenia
Instytutu Fizyki
fotonów, komputer
Doświadczalnej
Analizator powierzchni i
Zakład Technologii i
porowatości z
Nanotechnologii
oprzyrządowaniem
Chemicznej, Wydział
rok
3 miesiące /
gwarancja
dwa lata
Chemii
Ad. 1
Zestaw do pomiarów struktury krystalicznej metodą kątowo- rozdzielczej dyfrakcji promieni X, (
zestawie: spektrometr, komputer)
1.
2.
3.
biurkowy, małogabarytowy instrument ze zintegrowanym PC
interfejs 2xUSB i 1xLAN, klawiatura, myszka optyczna
średnica pomiarowa koło 140 mm
1
zakres skanowania od -3 do 160o 2Theta
minimalny krok 0.005o 2Theta
dokładność w całym zakresie lepsza od +/- 0,02o Theta
bez zewnętrznego chłodzenia wodą
temperatura pracy 5oC-35oC
Theta/ Theta geometria, poziomy układ próbki
detektor liniowy o aktywnym oknie ≥14 x 16 mm, max zliczeń > 10x10^6 cps, rozdzielczość
przestrzenna 75 m
lampa Cu w osłonie ceramicznej
zasilanie lampy 30 kV/10 mA
maksymalne promieniowanie < 1Sv/h
standard korund, szczeliny typu Soller 2,5o, szczelina anty rozproszeniowa
tarcza na próbki z możliwością swobodnej regulacji obrotu od 1o/min do 80o/min
zasilanie 90-250V, 50-60Hz
zainstalowany system i oprogramowanie umożliwiające wykonanie pomiarów oraz analizę
otrzymanych wyników pomiarowych w oparciu o wyznaczenie położenie maksimum i
szerokość połówkową
baza danych ICDD-PDF2
oprogramowanie do graficznej analizy otrzymanych wyników i obliczeń krystalograficznych
DIFFRACplus TOPAS
instalacja urządzenia oraz szkolenie
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
15.
16.
17.
18.
19.
20.
ad. 2
Spektrofluorymetr UV/VIS/ NIR, detektory NIR, układ do liczenia fotonów, komputer
I Spektrofluorymetr UV/VIS/ NIR,
A.
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
Spektrograf:
typ Czerny-Turner
z korygowanym zwierciadłem toroidalnym
apertura f/6.5
ogniskowa 500 mm
rozmiar płaszczyzny ogniskowej (W x H) 28 x 14 mm
mechaniczny zakres pomiarowy* 0 to 1200 nm
dyspersja odwrotna (nominalna)* 1.7 nm/mm
dwa wejścia, jedno zakończone szczeliną a drugie przystosowane do montażu światłowodu
2
9. szerokość szczeliny wejściowej i wyjściowej kontrolowana programowo: 10μm to 3mm
10. dwa wyjścia umożliwiające montaż fotopowielaczy
11. migawka kontrolowana automatycznie
12. rozdzielczość* 0.05 nm dla szerokości szczeliny wyjściowej 10μm
13. zmotoryzowana karuzela trzech siatek (automatyczna zmiana siatek)
14. siatka na podczerwień 300 linii/mm, zoptymalizowana dla 1100-1200 nm
15. siatka 2400 linii/mm, zoptymalizowana dla 500 nm
16. siatka na zakres widzialny 1200 linii/mm, zoptymalizowana dla 500 nm
17. światłowód 2 m zakończony końcówką SMA, na zakres spektralny 200-2000 nm i 500-2000 nm
18. pełna kontrola urządzenia przez oprogramowanie za pomocą interfejsu USB 2.0
19. zasilanie urządzenia 240 V
20. instalacja urządzenia
* wartości podane dla siatki 1200 l/mm oraz szerokości szczeliny 10μm dla długości fali 435.8nm
B. Obiektyw odbiciowy:
1.
powiększenie x15
2.
apertura numeryczna 0,5
3.
ogniskowa (FL) 13.41 mm
4.
odległość robocza 23.2 mm
5.
rozmiar małego lustra 13,4 mm
6.
BFL nieskończoność
C. : Źródło światła:
1. lampa ksenonowa łukowa o mocy ≥ 200 W o temperaturze barwnej ≥ 6000 K sztuk 3
2. maksymalna wydajność lampy osiągalna po ≤ 10 min od włączenia
3. oświetlacz z lustrem eliptycznym o ogniskowej około 380 mm
4. okienko wyjściowe – wysokiej czystości szkło kwarcowe
5. kąt wiązki wyjściowej 12,7
6. zapewnione chłodzenie w obiegu zamkniętym
7. temperatura pracy od 0 do 40oC
8. wymiary ≤ 120x120x250 mm
9. zasilacz 240 V/ 50 Hz, zabezpieczenie 2.5 A zwłoczne
10. zabezpieczenie przeciążeniowe 10 A/250 V szybkie
11. moc znamionowa od 100 do 200 W
12. napięcie pracy do 35 V przy prądzie 10 A
13. tętnienie napięcia przy max prądzie ≤ 10 mV
14. stabilność zasilacza po osiągnięciu temp. pracy ≤ 0.2%
15. stabilność oświetlenia (RMS)  1%
3
16. liniowa regulacja napięcia (RMS): 0.01%
II Układ do zliczania fotonów
A. Licznuik typu Lock IN
mod pracy
tylko A, tylko B, różnicowy
czułość
2 nV to 1 V
impedancja
FET
10 MΩ// 30 pF
bipolarna
10 kΩ // 30 pF
szumy
Napięcie
FET
5 nV/√Hz at 1 kHz
bipolarne
2 nV/√Hz at 1 kHz
współczynnik
tłumienia
> 100 dB at 1 kHz
współbieżnego
dokładność wzmocnienia
0,2% w całym zakresie
filtr wejściowy
50, 60, 100, 120 Hz
niskoszumowy
lub
mod pracy
szerokopasmowy
czułość
niskoszumowa
2 fA to 10 nA
szerokopasmowa
2 fA to 1 µA
Impedancja
niskoszumowa
< 2.5 kΩ
Prąd
szerokopasmowa
< 250 Ω
Szumy
niskoszumowe
13 fA/√Hz
szerokopasmowe
130 fA/√Hz
wzmocnienie
niskoszumowe
≤ 0.6% w środku pasma
szerokopasmowe
≤ 0.6% w środku pasma
Dynamika
> 100 dB
Częstotliwość
1 mHz to 250 kHz
liczba faz
2
Rodzaj detekcji
harmoniczne
nF (nF < 250 kHz, n < 65,536)
Wyjście
szybkie wyjście:
stała czasowa
możliwe konfiguracje
napięcie dla całego
wejściowego
impedancja
10 µs to 640 µs
X & Y or X & MAG
zakresu
±2.5 V liniowe do ±300% f.s.
1 kΩ
4
inne wyjścia:
Oscylator
Pomocnicze
sterowanie
Bufor danych
Komunikacja
częstotliwość odświeżania
166 kHz
zmiana
6 dB/oktawę
stała czasowa
5 ms to 100 ks
możliwe konfiguracje
X, Y, R, q, szumy, stosunki, log
napięcie dla całego zakresu
±10.0 V liniowe do ±110 f.s.
wejściowego
impedancja
1 kΩ
częstotliwość odświeżania
200 Hz
zmiana
6, 12, 18 and 24 dB/oktawę
zakres amplitud
1 µV to 5 V
liniowa, manualna lub przez
zmiana amplitudy
komputer
rozdzielczość
amplitudowa
w
zakresie
1 µV
1 µV to 4 mV
125 µV
4 mV to 500 mV
500 µV
501 mV to 2 V
1.25 mV
2.001 V to 5 V
zakres częstotliwości
1 mHz to 250 kHz
liniowa, manualna lub przez
zmiana częstotliwości
komputer
impedancja
50 Ω
3 ADC & 4 DAC z ±1 mV
rozdzielczością,
±10
mV
dokładności w zakresie ±10 V, 8
logicznych linii
32k, 16-bit danych
USB lub RS232, GPIB (IEEE-488).
B Mechaniczny modulator wiązki optycznej:
1. tarcza z dwoma rzędami otworów umożliwiająca generowanie częstotliwości od 4 do 500 Hz
oraz 40 do 5000 Hz
2. dokładność częstotliwości 0,01% w całym zakresie
3. temperatura pracy 0-40 C
4. stabilność częstotliwości generatora wewnętrznego ±25 ppm
5. rozdzielczość ustawienia częstotliwości 0.1 Hz dla wysokich częstotliwości, 0.01 Hz dla niskich
częstotliwości, 0.001 Hz dla obu zakresów przy sterowaniu przy pomocy USB lub RS232
6. przesunięcie fazowe (phase jitter) 0,1% dla 3 otworów, 1% dla 30 otworów
7. osiągnięcie częstotliwości znamionowej < 5 sekund przy zmianie częstotliwości od minimalnej
do maksymalnej < 1 sekundy przy zmianie częstotliwości o 10%
5
8. synchronizacja zewnętrzna TTL/CMOS, 4.0 do 5000 Hz
9. wyświetlacz typu LED 5 cyfr
10. tarcza: górny rząd - 30 otworów o rozmiarze 15 mm wysokości, 4.5 mm szerokości w środku
wysokości, dolny rząd - 3 otwory o rozmiarze 15 mm wysokości, 15 mm szerokości w środku
wysokości. Dokładność wykonania otworów do 0,01 mm
11. port USB lub RS232
12. temperatura pracy od 0 do 40oC
13. zasilanie 240 V/50 Hz, <20 W
14. rozmiar głowicy ≤ 120x120x70 mm
C. Wielofunkcyjne urządzenie do akwizycji danych:
1. podłączenie z komputerem przez port USB
2. rozdzielczość 16 bitów
3. wejścia optycznie izolowane typu M
4. liczba kanałów wejściowych/wyjściowych:
a. wejścia analogowe
1. pojedyncze 16, różnicowe 8
2. rozdzielczość 16 bitów
3. częstotliwość próbkowania 400 kS/s
4. maksymalne napięcie ±10 V
5. dokładność maksymalnego zakresu napięcia 2,69 mV
6. minimalna czułość na zakresie maksymalnym 91,6 µV
7. minimalny zakres ±200 mV
8. dokładność minimalnego zakresu napięcia 0.088 mV
9. minimalna czułość na zakresie minimalnym 4,8 µV
10. liczba zakresów 4
11. pamięć na 4095 próbek
b. wyjścia analogowe:
1. dwa pojedyncze
2. rozdzielczość 16 bitów
3. maksymalne napięcie 10 V
4. zakres napięcia ±10 V
5. dokładność maksymalnego zakresu napięcia 3,512 mV
6. częstotliwość uaktualniania 250 kS/s
7. prąd wszystkich wyjść 4 mA
c. liczniki:
1. dwa liczniki
2. maksymalna częstotliwość 80 MHz
6
5.
3. napięcie wyjściowe 0 V, 5.25 V (TTL)
4. stabilność częstotliwości 50 ppm
5. rozdzielczość 32 bity
d. cyfrowe:
1. dwukierunkowe 32 I/O
2. prąd wszystkich wyjść 50 mA
3. prąd jednego wyjścia 16 mA
4. maksymalne napięcie wejściowe 0 V, 5.25 V
5. maksymalne napięcie wyjściowe 0 V, 3.8 V
typ pomiarów: napięcie
III. Detektory NIR
Detektor I:
1. dioda APD o zwiększonej wydajności w zakresie UV na zakres spektralny od 200 do 1000 nm,
2. obudowa umożliwiająca zamontowanie diody na pręcie zakończonym gwintem M4 oraz w
systemie typu klatkowego
3. przełączalne zasilanie bateryjne 12V i 200mA oraz sieciowe 240 V
4. typowa czułość 25 A/W dla długości fali 600 nm przy wzmocnieniu 50
5. powierzchnia aktywna detektora ≥ 1 mm
6. maksymalne wzmocnienie 2.5x106 V/W
7. nasycenie przy ciągłym oświetleniu 1.5 µW
8. NEP ≤ 0.18 pW/Hz
9. wyjście BNC, 50 Ω
10. offset DC na wyjściu ≤ ±15 mV
11. pasmo przepustowości (3dB) DC – 50 MHz
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
Detektor II:
dioda APD o zwiększonej wydajności w zakresie UV na zakres spektralny od 900 do 1700 nm,
obudowa umożliwiająca zamontowanie diody na pręcie zakończonym gwintem M4 oraz w
systemie typu klatkowego
przełączalne zasilanie bateryjne 12V i 200mA oraz sieciowe 240 V
typowa czułość 9 A/W dla długości fali 1500 nm przy wzmocnieniu 10
powierzchnia aktywna detektora ≥ 0.2 mm
maksymalne wzmocnienie 0.9x106 V/W
nasycenie przy ciągłym oświetleniu 4.2 µW
NEP ≤ 0.46 pW/Hz
7
9. wyjście BNC, 50 Ω
10. offset DC na wyjściu ≤ ±15 mV
11. pasmo przepustowości (3dB) DC – 50 MHz
IV Komputer
1. Laptop: przekątna ekranu 14 cali, procesor z rdzeniem i5, pamięć 4GB, dysk 500GB, nagrywarka
DVD, masa < 2kg
2. Monitor: przekątna obrazu >21 cali, format obrazu 16:9, nominalna rozdzielczość 1920x1080,
3. Oprogramowanie do konfiguracji i kontroli spektrografu z fotopowielaczem,
Ad. 3
Analizator powierzchni i porowatości z oprzyrządowaniem
Nazwa
aparatu /
urządzenia /
systemu
Podzespół /
komponent /
układ
Parametr / funkcja
nazwa
Wymiar/wymagania
[opis]
Aparat do pomiaru Aparat
izoterm adsorpcji
podstawowy
gazów oraz analizy
powierzchni
właściwej
adsorbentów i
rozkładu porów w
zakresie semimikro- i mezoporów
wraz z
oprogramowaniem
Średnice mierzonych
porów
od 2 nm
Wielkość mierzonych
objętości mikroporów
Od 0,001 cm3/g
Zakres mierzonych
min. 0,01 m2/g – powyżej 3000
8
powierzchni właściwych
m2/g (azot),
Minimalna wartość
ciśnienia
10-3 mmHg
Dokładność pomiaru
ciśnienia
0,1 μmHg
Długookresowy dryf
ciśnienia
0,1 μmHg
Stosunek sygnału do szumu
układu pomiaru ciśnienia
1 : 30 000
system próżni
W pełni bezolejowy
(wspomagany) niezależny dla
stacji pomiarowej i stacji
odgazowania próbki ( dwa
niezależne zestawy pomp)
porty
pomiarowy/odgazowania
zapewniający jednoczesny
pomiar jednej próbki i
przygotowywanie do analizy od
jednej do dwu próbek
zabezpieczenia systemu
próżni
Co najmniej dwa zabezpieczenia
przed przedostaniem próbek
proszkowych do systemu próżni (
n.p. filtr mechaniczny ,
elektrostatyczny it.p)
temperatura odgazowania
do 450°C
zakres ciśnień względnych
P/Po
5·10-6 do 1,0 dla N2 (zależnie od
adsorbatu i temperatury)
czujnik ciśnienia pary
nasyconej Po
Umieszczony w pobliżu kolby
pomiarowej, korzysta z tego
samego przetwornika ciśnienia co
stacja analityczna aparatu
zakresy pomiarowe
ciśnienia
10-5 – 10 mmHg,
10-3 – 1000 mmHg
9
Wbudowane do aparatu
czujniki ciśnienia/próżni
Zakres 0-1000 mm Hg – nie
więcej jak jeden
dla stacji analitycznej
Zakres 0-10 mmHg – nie więcej
jak jeden.
Wbudowane do aparatu
czujniki ciśnienia/próżni
Zakres 0-1000 mm Hg – nie
więcej jak jeden
dla stacji odgazowania
sposoby dozowania
Zmienne – co najmniej cztery (
zmienna wartość zależna od
stanu próbki, stała doza,
określone ciśnienie dozowania,
interwał czasowy dla dozowania
określonej ( i programowalnej
porcji)- wybierane przez
użytkownika
czas pracy stacji
analitycznej bez
konieczności uzupełniania
ciekłego azotu
min. 80 godz.
Czas pracy stacji
odgazowania bez
konieczności uzupełniania
ciekłego azotu
min. 80 godzin
Charakterystyka fizyczna i
termiczna dewarów stacji
analitycznej
Identyczna
i odgazowania
Rozkład temperatury
probówki pomiarowej na
jej długości w ciągu całego
cyklu pomiarowego
Musi następować równe (+/0,3ºC) rozłożenie temperatury
ciekłego azotu na całej długości
probówki ( zakres 15-20 cm), z
wykluczeniem konieczności
10
dolewania ciekłego azotu w
czasie analizy do jednego lub
każdego z dwu dewarów jak i z
wykluczeniem stabilizacji
poziomu azotu wyłącznie w
strefie próbki.
temperatura pomiaru
-196 do 30°C (zależnie od
adsorbatu)
Stosowane podstawowe
gazy pomiarowe i
niezbędny osprzęt
N2,, He, i inne (osprzęt – złączki,
zawory nadmiarowe, reduktory
do butli, minimum 2 dzielniki
przepływu - w dostawie)
inne gazy pomiarowe –
odporność układu
próżniowego
możliwość pomiaru z
dodatkowym osprzętem (co
najmniej O2, CO2, CO, Ar,
H2,Butan, Benzen)
Ilość przyłączy gazowych
bezpośrednio do manifoldu
( i wybie-ralnych z poziomu
oprogramowania)
Co najmniej 8
Ilość portów dla stacji
analitycznej ( pomiarowej )
w jednym manifoldzie
Nie więcej jak jeden
Możliwość odgazowania i
analizy próbki w stacji
analitycznej
Musi występować. Akcesoria do
tego celu muszą być na
wyposażeniu aparatu
Zbiornik na ciekły
azot
naczynie typu dewar
Pojemność min. 50 l, z generacją
ciśnienia, systemem pobierania,
wylewką i podstawką na kółkach (
stratność na odparowanie : nie
gorsza niż 0,85% /dobę)
Materiały
eksploatacyjne
tulejki, uszczelki, o-ringi,
płaszcze izotermiczne, rurki
na próbki (za wyjątkiem
pozwalające na minimum 2-4 lata
eksploatacji po okresie gwarancji
11
gazów roboczych)
Sterowanie
pomiarem,
zbieranie, analiza i
prezentacja danych
komputer zewnętrzny klasy
PC z systemem
operacyjnym Windows
procesor klasy Pentium Core 2
Duo 2GHz, 4GB RAM, HDD
500GB, DVD R/RW DL,
dedykowana karta grafiki 512MB,
6x USB, Ethernet 1Gbps,
Windows XP Pro lub Windows 7
Pro
Monitor
o rozdzielczości pionowej
powyżej 1024 pix: (LCD 19”
proporcje 5:4 lub panoramiczny
22”)
Drukarka
laserowa, dupleks, interfejs USB i
Ethernet
oprogramowanie sterujące
i analityczne
Zapewniające sterowanie
aparatem, zbieranie i
przetwarzanie danych w tym
metody - co najmniej: BET,
Langmuir, BJH, Horvath-Kawazoe,
Saito-Foley, DR i DA, MP, deBoer,
t-plot, alfa-s plot,
H-K z korekcją Cheng&Yang, H-K z
modelami S&F, BJH wraz z
modyfikacją Kruk-_JaroniecSayari, NLDFT, 2D-NLDFT, nano
NL-DFT (różne modele – co
najmniej 22).
Metody zamienne do w/w
wykluczone, mogę być jednakże
oferowane jako uzupełniające.
Oprogramowanie winno być
otwarte z możliwością
dopisywania i modyfikacji nowych
metod w trybie on-line.
12
typ licencji na
oprogramowanie do
analizy danych
na dowolną ilość komputerów,
możliwość wykorzystania na
dowolnym komputerze (innym
niż sterujący pomiarem)
Temperatura pracy
10-35°C
wilgotność względna
10-70%
prąd zmienny
230V, pobór mocy do 1kW
stabilizator zasilania
2000 VA, wewnętrzny lub
zewnętrzny
okres gwarancji
24 m-ce
Maksymalna wymiary
aparatu
WxSxG ( 100x85x65 cm)
Maksymalna masa aparatu
do 120 kg
lokalizacja serwisu
na terenie Polski
Serwis
pogwarancyjny i
dostępność części
okres dostępności
15 lat od zakupu
Dostawa
termin dostawy
3 miesiące od podpisania umowy
Przeszkolenie i
dokumentacja
przeszkolenie w obsłudze
przyrządu, przystawek i
oprogramowania
3 pracowników, na miejscu po
instalacji przyrządu
Instrukcja i dokumentacja
w języku polskim i angielskim,
drukowana lub elektroniczna
Warunki pracy
Zasilanie
Gwarancja
13