Załącznik nr 3 Arkusz kalkulacyjny oferty

ZAŁĄCZNIK NR 3
…………………………………………
(miejscowość, data)
(pieczęć/ dane teleadresowe)
Arkusz Kalkulacyjny Oferty
Nazwa zadania:
wykonanie charakterystyki próbek cienkich transparentnych linii przewodzących wytworzonych w procesie
XTPL
Nazwa i adres Wykonawcy:
......................................................................................................................................................................
......................................................................................................................................................................
Wykorzystane skróty:
SEM- Scanning Electron Microscopy (elektronowa mikroskopia skaningowa)
FIB- Focused Ion Beam (skaningowa mikroskopia jonowa)
EDS-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (detektor EDS)
TEM – Transmission Electron Microscopy (elektronowa mikroskopia skaningowa)
AFM – Atomic Force Microscopy (mikroskopia sił atomowych)
TG – thermogravimetry (termograwimetria)
DSC – Differential Scanning calorimetry (kalorymetria różnicowa)
Cena
Lp.
1
Rodzaj badania/analizy
Obrazowanie SEM z FIB i
EDS
Opis dodatkowy





2
Wykonanie lameli przy
użyciu FIB




Ilość
próbek
Ilość
godzin
(A)
(B)
netto
(PLN)
Obrazowanie
Analiza chemiczna, jakościowa i ilościowa
Analiza przekroju poprzecznego
Cena zawiera napylanie próbek do
obrazowania C, Au –
Możliwość uczestnictwa pracownika XTPL
SA w pomiarach
Minimalna ilość zdjęć z pomiaru: 10
Wykonanie lameli
Zamawiający dostarcza siateczkę TEM
Możliwość uczestnictwa pracownika XTPL
SA w pomiarach
Stablowicka 147 I 54-066 Wroclaw | Poland
500
50
(C)
SUMA
netto
(A x C
lub
B x C)



3
obrazowanie TEM z EDS





4
Obrazowanie HR-TEM z EDS




5
Wytworzenie warstw Au na
szkle




6
Profilometria powierzchni


7
Mikroskopia sił atomowych
(AFM)



8
Pomiar wielkości cząstek

9
Pomiar wielkości cząstek –
badanie z raportem

10

Pomiar potencjału zeta

11
12
Pomiar potencjału zeta –
badanie z raportem
Pomiar stabilności cząstek w
zawiesinie


Obrazowanie
Analiza chemiczna, jakościowa i ilościowa
Zamawiający przekazuje próbkę w
roztworze wraz z siateczką TEM
Cena zawiera przygotowanie próbki do
badania (m.in. suszenie)
Możliwość uczestnictwa pracownika XTPL
SA w pomiarach
Minimalna ilość zdjęć z pomiaru: 10
Zamawiający przekazuje próbkę w
roztworze wraz z siateczką TEM
Przygotowanie próbki do badania (m.in.
suszenie)
Obrazowanie; badania struktur z
rozdzielczością poniżej 70pm
Analiza chemiczna, jakościowa i ilościowa
Możliwość uczestnictwa pracownika XTPL
SA w pomiarach
Cena uwzględnia standardowe
przygotowanie próbki (czyszczenie
plazmowe/mokre)
Napylenie warstwy 100nm Au (+-5nm)
Napylenie warstwy adhezyjnej
Cena powinna uwzględniać koszt
materiału (target Au 3”)
Profilometria stykowa wytworzonych
warstw
Profile powierzchni na profilometrze
stykowym
Topografia struktur wytworzonych w
procesie XTPL
Topografia przewodnictwa struktur
wytworzonych w procesie XTPL
Możliwość uczestnictwa pracownika XTPL
SA w pomiarach
Pomiar średniej wielkości cząstek w
roztworach koloidalnych i zawiesinach z
wykorzystaniem technologii dynamicznego
rozproszenia światła
Pomiar średniej wielkości cząstek w
roztworach koloidalnych i zawiesinach z
wykorzystaniem technologii dynamicznego
rozproszenia światła
raport zawierający analizę wyników
pomiarów
pomiar potencjału zeta cząstek w
roztworach wodno-glikolowych w pełnym
zakresie pH
pomiar potencjału zeta cząstek w
roztworach wodno-glikolowych w pełnym
zakresie pH
raport zawierający analizę wyników
pomiarów
Stabilność czasowa oraz temperaturowa
emulsji oraz faz rozproszonych
300
50
50
25
200
100
10
50
10
50
Stablowicka 147 I 54-066 Wroclaw | Poland
 Charakteryzacja procesów sedymentacji
 Analiza koalescencji oraz koagulacji


13
14
15
Pomiar stabilności cząstek w
zawiesinie – badanie z
raportem
Pomiary napięcia
powierzchniowego cieczy
Pomiary napięcia
powierzchniowego cieczy –
badanie z raportem
16
Pomiar kąta zwilżania
17
Pomiar kąta zwilżania –
badanie z raportem
Pomiar swobodnej energii
powierzchniowej dla ciał
stałych i folii
Pomiar swobodnej energii
powierzchniowej dla ciał
stałych i folii – badanie z
raportem
18
19
20
Analiza TG / DSC –



Analiza TG / DSC – badanie z raportem
22
Cykle starzeniowe w
komorach klimatycznych
23
Cykle starzeniowe w
komorach klimatycznych –
badanie z raportem

Krystalografia
25
Laserowa mikroobróbka
materiałów
26
Plazmowa modyfikacja
powierzchni szklanych
27
Pomiar transmisji optycznej
Raport zawierający analizę wyników
pomiarów
10
50

Raport zawierający analizę wyników
pomiarów
5
30

Raport zawierający analizę wyników
pomiarów

Wyznaczenie podstawowych parametrów
termicznych (stabilność termiczna,
temperatura topnienia)
Wyznaczenie podstawowych parametrów
termicznych (stabilność termiczna,
temperatura topnienia)
Raport zawierający analizę wyników
pomiarów
Badanie z wykorzystaniem komory
przyspieszonego starzenia z lampami UVA i UV-B - Q-lab QUV Spray
Badanie z wykorzystaniem Komory
przyspieszonego starzenia z lampami UVA i UV-B - Q-lab QUV Spray
Raport zawierający analizę wyników
pomiarów
analiza fazowa jakościowa/ilościowa,
pomiar wielkości krystalitów,
pomiar naprężeń,
pomiar cienkich warstw,
przejścia fazowe w temperaturach
w zależności od rodzaju próbki
wykorzystanie lasera pikosekundowego
lub światłowodowego



24
10
100

21
Stabilność czasowa oraz temperaturowa
emulsji oraz faz rozproszonych
Charakteryzacja procesów sedymentacji
Analiza koalescencji oraz koagulacji
Raport zawierający analizę wyników
pomiarów







5
50
10
100
20
25
50
50



Rozmiar próbki ok. 10x10mm
Zakres spektralny ok. 350-1000nm
Pomiar w jednym punkcie na próbce, bez
mapowania powierzchni
Stablowicka 147 I 54-066 Wroclaw | Poland
200
RAZEM:
Łączna cena netto zamówienia wynosi: ……………………………
Łączna cena brutto zamówienia wynosi: ……………………….. (w tym zł ………. VAT )
Oferuję przeprowadzanie analizy/badań/usług do …….. (słownie: ……………..) dni od dnia
zgłoszenia takiej potrzeby przez Zamawiającego.
Oferta jest ważna 30 dni.
................................, dnia......................
..........................................................................................
imię, nazwisko (pieczęć) i podpis osoby
upoważnionej do reprezentowania Wykonawcy
Stablowicka 147 I 54-066 Wroclaw | Poland