Odpowiedź na zapytania w sprawie SIWZ

Pion Kanclerza
Dział Zamówień Publicznych
Pismo: ZP/1076/2011
Kraków, 2012-02-01
KC-zp/528/2012
WYKONAWCY,
którzy pobrali SIWZ
ODPOWIEDŹ NA ZAPYTANIA W SPRAWIE SIWZ - 2
Uprzejmie informujemy, że w dniu 2012-01-27 wpłynęła prośba o
wyjaśnienie zapisu specyfikacji istotnych warunków zamówienia, w
postępowaniu prowadzonym na podstawie przepisów ustawy z dnia 29
stycznia 2004 roku Prawo Zamówień Publicznych (Dz. U. z 2010 r. nr 113,
poz. 759) w trybie „przetarg nieograniczony” na dostawę i
uruchomienie spektrometru XPS/UPS dla Akademickiego Centrum
Materiałów i Nanotechnologii (ACMiN) AGH - ZP/1076/2011.
Dotyczy: pkt I. 6.
W związku z tym, ze różni producenci dla tej samej czynności używają
różnych terminów prosimy o potwierdzenie, że przez rotację Zalara należy
rozumieć pięcioosiowy kompucentryczny obrót próbki (tzw. off-axis)?
Odp. - Dopuszcza się rozwiązania o parametrach zgodnych z
warunkami podanymi w pkt II. 3.h (pkt 3.1 SIWZ).
Dotyczy: pkt I. 8.
Czy przez wprowadzanie próbek w atmosferze gazów obojętnych należy
rozumieć przepłukanie układu wprowadzającego gazem obojętnym, czy
też umieszczenie próbki w komorze rękawicowej wypełnionej gazem
obojętnym i następnie przeniesienie jej do systemu XPS?
Odp. - Wprowadzanie próbek w atmosferze gazów obojętnych
oznacza uzyskanie możliwości montowania próbek na uchwyt w
zewnętrznej,
niezależnej
od
sytemu
XPS/UPS
komorze
rękawicowej
wypełnionej
gazem
obojętnym
i
następnie
przeniesienie jej do tego systemu.
Dotyczy: pkt I. 8
Czy próżniowe wprowadzanie próbek będzie wystarczające?
Akademia Górniczo–Hutnicza |Pion Kanclerza, Dział Zamówień Publicznych
al. A. Mickiewicza 30, 30–059 Kraków, tel. +48 12 617 35 95, fax +48 12 617 35 95
e–mail: [email protected], www.dzp.agh.edu.pl
Nr rachunku PEKAO S.A. 96 1240 4722 1111 0000 4858 2922
REGON 000001577, NIP 6750001923
Odp. - Wyłącznie
wystarczające
próżniowe
wprowadzanie
próbek
nie
jest
Dotyczy: pkt II. 3.a)
1. Co Państwo rozumiecie poprzez wyrażenie wielokanałowy detektor:
dwu-, dziesięcio-, czy tez stu- kanałowy detektor? Prosimy o uściślenie
tego parametru.
Odp. - Detektor co najmniej 16-kanałowy.
2. W zamieszczonej w tym punkcie tabeli wynika, że podane parametry są
podane dla tak zwanej techniki mikro ogniskowania wiązki
promieniowania rentgenowskiego. Technika ta sprawdza się dla próbek
nieorganicznych dając duże liczby zliczeń. Dla próbek polimerowych,
czy też różnego rodzaju próbek organicznych (np. powłok) technika ta
stwarza duże problemy związane z tzw. paleniem próbki ze względu na
dużą moc promieniowania skupioną na małej powierzchni. Dla
ewentualnego uniknięcia takiego zjawiska wiązka promieniowania
przenoszona jest do różnych miejsc próbki odpowiednio szybko, a
sygnał zostaje często uśredniony. Jasnym jest jednak, że taka
metodyka pomiaru powoduje to, że otrzymany sygnał nie dotyczy tylko
powierzchni, na której została skupiona wiązka, lecz może być średnią z
kilku miejsc, co oczywiście znacznie zmniejsza rozdzielczość poziomą, a
przy małych badanych strukturach może to być nawet średnia z
różnych chemicznie struktur.
W związku z powyższym prosimy o zgodę na system pracujący w oparciu
o inną metodykę zbierania sygnału z małych powierzchni, a mianowicie
oparty nie o mikro ogniskowanie wiązki promieniowania rentgenowskiego,
ale na mikro zbieraniu wychodzącego z próbki sygnału poprzez
odpowiednie zmniejszanie przesłony optyki spektrometru.
Wyrażenie zgody na taki system umożliwi złożenie oferty na spektrometr
przewyższający parametrami wyspecyfikowany, a mianowicie;
a. Średnica obszaru analizy dla wiązki monochromatycznej będzie
regulowana w zakresie od10m do 1000 m, nie zaś jak podane jest w
opisie w zakresie 10-300 m.
b. Obszar obrazowania wiązką monochromatyczną będzie pokrywał obszar
aż do 8 mm × 8 mm, nie zaś jak podane jest w opisie 1 mm × 1 mm.
c. Gwarantowaną rozdzielczością mapowania powierzchni będzie 3 m,
czyli lepszą niż w opisie.
d. Dostarczony
detektor
będzie
odpowiednikiem
detektora
120
kanałowego, co znacznie przyśpieszy pomiary w stosunku do
wyspecyfikowanego przyrządu.
e. Proponowany
spektrometr
będzie
gwarantował
uzyskanie
rozdzielczości dla próbek PET 0,68 eV, czyli znacznie lepszej niż podana
w specyfikacji wartość 0,85 eV. W tabeli poniżej podane są
gwarantowane parametry dla próbki PET (rozdzielczość jako FWHM):
Podane wartości zmierzono dla monochromatycznego źródła Al. Kα
f. Dla wzorca Ag 3d5/2 będą gwarantowane poniższe parametry
(rozdzielczość jako FWHM)
Dla monochromatycznego źródła Al. Kα
m
zaś achromatycznego źródła Mg. Kα poniższe parametry
m
g. Dostarczony ewentualnie spektrometr będzie posiadał podwójne
zabezpieczenie z mu-metalu, nie zaś pojedyncze jak wymagane jest w
opisie przedmiotu zamówienia
h. Zapewnione ciśnienie robocze będzie wynosiło mniej niż 6,67 × 10 -8 Pa,
czyli nawet mniej niż podana w wymaganiach wartość 7 × 10 -8 Pa,
Odp. Nie dopuszcza się zmiany warunków przedstawionych w pkt
II. 3. a).
Dotyczy: pkt II. 3.b)
Czy opisany w tym punkcie system oznacza automatyczny samoregulujący
się system neutralizacji ładunku elektrycznego umożliwiający badanie
próbek nieprzewodzących prądu elektrycznego?
Proponujemy taki system oparty na najbardziej wydajnym koaxialnym
filamencie elektronów niskoenergetycznych zapewniający wyszczególnione
w pytaniu cechy.
Odp. - Dopuszcza się rozwiązania o parametrach zgodnych z
warunkami podanymi w pkt II. 3.b).
Dotyczy: pkt II. 3.c)
Mając na względzie powyższe dane prosimy również o wyrażenie zgody na
system XPS/UPS zawierający achromatyczne źródła promieniowania o
mocy 450 W i monochromatyczne źródło promieniowania o mocy 600 W.
Powyższe tabele niezbicie pokazują, że taka moc źródeł jest zdecydowania
wystarczająca dla naszych systemów do osiągnięcia wysokiej liczby
zliczeń, czyli również bardzo wysokiej czułości i świadczy o wysokiej
jakości układów magnetycznych i elektronicznych oraz optyki naszych
spektrometrów. Prosimy o zwrócenie uwagi na to, że gwarantujemy
dostarczenie spektrometru o rozdzielczości (FWHM) lepszej niż 0,48 eV dla
wzorca Ag 3d5/2, co jest znacznie lepszym parametrem niż 0,5 eV podane
w Państwa opisie przedmioty zamówienia.
Odp. -Nie dopuszcza się zmiany warunków przedstawionych w pkt
II.3. c).
Dotyczy: pkt II. 3.d)
Prosimy o wyrażenie zgody na system o rozdzielczości dla poziomu
Fermiego lepszej niż 120 mV, liczbie zliczeń 106 przy tzw. pass energy
wynoszącej 5 eV z gwarantowanym stosunkiem He II 4:1?
Odp. - Nie dopuszcza się zmiany warunków przedstawionych w pkt
II. 3d.
Dotyczy: pkt II. 3.f)
Prosimy o wyrażenie zgody na system o maksymalnym prądzie działa
klastrowego 30 nA zapewniającym stabilna i wydajną pracę?
Odp. - Nie dopuszcza się zmiany warunków przedstawionych w pkt
II. 3f.
Dotyczy: pkt II. 3.h)
a. Prosimy o wyrażenie zgody na dostarczenie dwóch uchwytów próbek,
do pomiarów z możliwością rotacji i kątowych oraz do pomiarów
temperaturowych.
Umożliwi to zaproponowanie uchwytu o średnicy rotacji 20 mm, czyli o
zakresie większym niż ten podany w opisie, oraz uchwytu o zakresie
temperatur od -150 oC do 600oC, czyli zakresie większym niż podany w
opisie.
b. Prosimy o podanie dokładności nastawianej temperatury.
Odp. - Nie dopuszcza się rozwiązań uniemożliwiających
równoczesne pomiary kątowe, temperaturowe wraz z rotacją
Zalara. Dokładność nastawy temperatury winna być nie gorsza niż
1o.
Dotyczy: pkt III. 3.
Czy zadowalający będzie system obserwacji próbek umożliwiający wybór
obszaru do analizy oparty o kamerę TV w komorze analitycznej?
Odp. - Dopuszcza się system optyczny do obserwacji próbki przy
pomocy kamery CCD i wstępnego określenia wybranego obszaru
analizy w sposób automatyczny zamontowany w komorze
analitycznej.
Treść niniejszego pisma staje się integralną częścią SIWZ.
Prorektor AGH
ds. Ogólnych
Prof.dr hab.inż.T.Słomka