Szczecin, 20

Załącznik nr 1 SIWZ
ZP/WNoŻiR/CBiIMO/735/11
Nazwa przedmiotu zamówienia:
Skaningowy mikroskop elektronowy SEM z oprzyrządowaniem
Opis przedmiotu zamówienia
Wspólny słownik zamówień CPV: 38.51.11.00-1, 38.54.00.00-2
Miejsce dostarczenia: Centrum Bioimmobilizacji i Innowacyjnych Materiałów Opakowaniowych, WNoŻiR,
Opis ogólny przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest nowoczesny mikroskop skaningowy z oprzyrządowaniem do
obrazowania próbek materiałów i szerokiego zakresu zastosowania, między innymi w
biologii, chemii, inżynierii materiałowej oraz farmacji.
Składający się z mikroskopu elektronowego o wysokiej rozdzielczości z płynną regulacją
napięcia wiązki elektronów, detektora BSE (elektronów wstecznie rozproszonych),
charakteryzującego się łatwą obsługa, gdzie mikroskop gotowy jest do pracy w ciągu kilku
minut, proste przygotowanie preparatów - bez konieczności wykonywania pokryć
metalicznych w przypadku próbek nieprzewodzących, możliwość obserwacji próbek
rzeczywistych dzięki zainstalowanemu stolikowi chłodząco-grzewczemu, z mikroskopem
powinien być zintegrowany analizator składu chemicznego typu EDS z detektorem nie
wymagającym chłodzenia ciekłym azotem, możliwość obserwacji stereoskopowych z wysoką
rozdzielczością i dużą głębią ostrości nieosiągalną w mikroskopii optycznej, sterowanie z
zewnętrznego komputera, niskie koszty eksploatacji. System powinien pracować dla próbek
przewodzących lub nie. System powinien być wyposażony w detektor przeznaczony do pracy
w trybie zmiennej próżni, co umożliwia obserwację próbek nieprzewodzących i uzupełnia
informacje, które niesie BSE. System powinien być wyposażonym w nowoczesną napylarkę
do nanoszenia cienkiej warstwy metalu na próbkach przeznaczonych do obserwacji.
I. Mikroskop skaningowy
Lp. PARAMETRY PODSTAWOWE WYMAGANE
Rozdzielczość mikroskopu w trybie wysokiej próżni dla napięcia przyspieszającego HV 30 kV
1.
– nie gorsza niż 3 nm
Rozdzielczość mikroskopu w trybie zmiennej próżni dla napięcia przyspieszającego HV 30 kV
2.
– nie gorsza niż 3.5 nm
Powiększenie od 4-1 000 000 x (przy WD-30 mm, HV = 3- kV, rozmiar obrazu 512x512
3.
pikseli). Wymagane jest aby uzyskiwany obraz w niskich powiększeniach rzędu 4-8 razy nie
był zniekształcony przez dystorsje i umożliwiał pomiary długości/odległości/powierzchni
obiektów na obrazach przy tych powiększeniach.
Źródło elektronów – katoda wolframowa
4.
Napięcie przyspieszające od 200 V do 30 kV
5.
Prąd próbki od 1 pikoampera do 2 mikroamperów z tolerancją 10%
6.
Średnica wewnętrzna komory 250 mm ± 25 mm Szerokość drzwi komory 150 mm ± 2 mm
7.
W pełni zmotoryzowany stolik próbek o przesuwach:
8.
X =/> 80 mm Y =/>60 mm Z =/> 45 mm
Pochylanie =/> od -75° do +50° Rotacja: 360°
Mikroskop wyposażony w następujące detektory i akcesoria: Detektor SE z kryształem YAG
9.
Wysokorozdzielczy detektor BSE z kryształem YAG zainstalowany na ruchomym ramieniu
pozwalającym na wysunięcie detektora Detektor SE pracujący w warunkach zmiennej próżni.
1
Załącznik nr 1 SIWZ
ZP/WNoŻiR/CBiIMO/735/11
10.
11.
12.
13.
14.
15.
16,
17.
18.
19.
20.
Układ pomiaru prądu próbki
Układ wykrywający kontakt stolika/próbki z detektorami lub elementami komory. Wymagane
jest natychmiastowe ostrzeżenie dźwiękowe oraz zablokowanie przesuwu stolika. Kamera
podglądu komory
Obrazy z detektorów mogą być nakładane na siebie i miksowane z możliwością określenia
udziału sygnału z poszczególnych detektorów w obrazie składanym.
Układ próżniowy mikroskopu wyposażony w pompę turbomolekularną i rotacyjną. Wymagany
jest brak chłodzenia cieczowego w układzie próżniowym i elektronooptycznym. Próżnia
robocza mikroskopu poniżej 10-2 Pa, regulacja ciśnienia w trybie zmiennej próżni w zakresie
od 3 do 500 Pa.
Pneumatyczny układ zawieszenia kolumny eliminujący przekazywanie drgań z podłoża.
Zapis obrazów z rozdzielczością 8 192x 8 192 pikseli w postaci plików bmp, tiff, JPG,
jpeg2000, PNG
Kolumna mikroskopu nie zawierająca żadnych mechanicznych elementów wymagających
centrowania. Efektywna średnica wiązki elektronowej regulowana elektromagnetycznie w
sposób ciągły przy pomocy dedykowanej soczewki elektronowej.
Automatyczne centrowanie wszystkich elementów optyki elektronowej. Szereg
zautomatyzowanych funkcji umożliwiających szybkie uzyskanie obrazu dobrej jakości.
Optyka elektronowa mikroskopu wyposażona w cztery soczewki elektronowe pozwalająca na
płynne przełączanie się między trybami pracy pozwalającymi na:
- obserwacje w niskich powiększeniach (rzędu 4x) z układem kompensującym dystorsję
- obserwacje ze zwiększoną głębią ostrości - obserwacje z powiększonym polem widzenia pochylanie wiązki elektronowej (osi skanowania X i Y) o zadany kąt w celu np. uzyskiwania
obrazów stereoskopowych wykorzystywanych do rekonstrukcji 3D obserwowanych
powierzchni.
Oprogramowanie mikroskopu umożliwiające pomiary i przetwarzanie obrazów.
Oprogramowanie zawierające szereg dodatkowych modułów i funkcji takich jak: funkcje
programowe przetwarzania obrazu: autokontrast, wyostrzanie i wygładzanie, filtry
adaptacyjne, kontrast różnicowy, korekcja cieni, szybka transformacja Fouriera, obrót 90
stopni, konwersja do skali szarości 8 bit, konwersja do skali „true color” 24 bit, odwrócenie,
redukcja szumu, filtr uśredniający funkcje pomiarów: odległości, długości, kątów,
powierzchni, okręgów, elips, równoległoboków, obszarów nieregularnych, kalibracja wielkości
pikseli, przesyłanie danych z pomiarów do obróbki statystycznej inne funkcje: składanie zdjęć
zrobionych z ustawieniem ostrości na różnych planach (głębokościach) w jeden ostry obraz,
operacje binarne na obrazach (dodawanie, odejmowanie, mnożenie, maska, operacje logiczne)
z dobieraną wagą udziału poszczególnych obrazów, klasyfikacja obiektów na podstawie skali
szarości lub koloru i pomiar zajmowanej przez nie powierzchni oraz ich procentowy udział,
oprogramowanie do obsługi dwóch komputerów przy pomocy jednej myszy i klawiatury
System posiada możliwość przydzielania zróżnicowanych uprawnień różnym operatorom
mikroskopu tzw. „ograniczony poziom dostępu”.
Komputer sterujący mikroskopu w konfiguracji zapewniającej płynne funkcjonowanie całego
systemu. System operacyjny Windows 7. Oprogramowanie do obsługi dwóch komputerów
przy pomocy jednej myszy i klawiatury.
- minimum jeden monitor ciekłokrystaliczny, kolorowy, nie mniejszy niż 20"
- DVD-RW
- porty USB (2x)
- karta sieciowa
- klawiatura, mysz,
- panel operacyjny do sterowania mikroskopem,
- kolorowa drukarka laserowa
Możliwość podłączenia kamery cyfrowej zainstalowanej na mikroskopie optycznym i
pobieranie obrazów do oprogramowania mikroskopu skaningowego w celu dalszej analizy i
przetwarzania.
2
Załącznik nr 1 SIWZ
ZP/WNoŻiR/CBiIMO/735/11
21.
22.
23.
24.
Stolik chłodzący Peltiera do zamrażania próbek o średnicy do 18 mm i temperaturze pracy do 70 stopni C zintegrowany z mikroskopem skaningowym gotowy do pracy. Ustawianie
temperatury oraz innych parametrów pracy stolika odbywa się poprzez główną aplikacje
(oprogramowanie) kontroli mikroskopu.
- Moc stolika: 50 W +/-20%
- Dokładność zadawania temperatury: nie gorsza niż 0,5 °C
- Stabilność temperatury: nie gorsza niż 0,2 °C
Specjalistyczne oprogramowanie do rekonstrukcji obrazów trójwymiarowych sprzężone z
oprogramowaniem mikroskopu. Uzyskiwanie zdjęć stereoskopowych niezbędnych do
uzyskania obrazów 3D odbywać się powinno poprzez pochylanie osi skanowania wiązki o
zadany kąt bez konieczności pochylania stolika próbek.
Oprogramowanie pozwala na obserwacje modelu 3D pod dowolnym kątem i pozwala na
pomiar wielkości obserwowanych struktur powierzchniowych m.in. pozwala na pomiar
chropowatości wg. norm dla pomiarów dotykowych ISO 4287.
Zestaw części na dwa lata pracy mikroskopu skaningowego:
- katoda wolframowa (źródło elektronów) – co najmniej 24 sztuki,
- scyntylator detektora SE – co najmniej 1 sztuka,
- apertury – co najmniej 4 sztuki,
- olej do pompy próżniowej – co najmniej 2 litry,
- filtr do pompy próżniowej – co najmniej 2 sztuki,
- stoliki na próbki – co najmniej 20 sztuk,
- adhezyjna taśma węglowa 8 mm/20 m – co najmniej 1 sztuka.
System mikroanalizy rentgenowskiej EDS do jakościowej i ilościowej analizy składu
chemicznego próbek.
System zawiera detektor EDS nie wymagający chłodzenia ciekłym azotem o rozdzielczości nie
gorszej niż 133 eV.
Zakres analizy pierwiastków od B (5) do Am (95).
Układ elektroniczny i oprogramowanie umożliwiające analizę punktową oraz analizę
obszarów.
Oprogramowanie systemu mikroanalizy jest całkowicie zintegrowane z programem głównym
mikroskopu skaningowego
II. Napylarka próżniowa
Napylarka służąca do napylania próbek nieprzewodzących złotem, palladem i platyną.
Napylarka wyposażona w obrotowy stolik, który można pochylać z uchwytem do mocowania
różnych próbek i stolików. Urządzenie pozwala na w pełni automatyczną kontrolę
parametrów pracy i napylania, min. napylanie przy niskim napięciu.
Lp. PARAMETRY PODSTAWOWE WYMAGANE
Komora robocza: wykonana ze szkła boro-krzemowego
1.
Wymiary komory (+/- 20%): 150 mm (średnica), 125 mm (wysokość)
2.
Stolik próbek (+/- 10%): średnica 60 mm
3.
Zakres prądu napylania: 0-80 mA lub szerszy
4.
Urządzenie zawiera system próżniowy wyposażony w rotacyjną pompę próżniową wraz z
5.
przewodem próżniowym i elementami łączącymi.
Urządzenie wyposażone standardowo w jeden target złota o wymiarach zgodnych z
6.
wymiarami zespołu do napylania i grubości nie mniejszej niż 0.1 mm
Obsługa poprzez ekran dotykowy
7.
3
Załącznik nr 1 SIWZ
ZP/WNoŻiR/CBiIMO/735/11
III. Dodatkowe warunki:
• Wykonawca dostarczy pełną dokumentację umożliwiającą bezpieczną i skuteczną
obsługę i wykorzystanie wszystkich dostarczonych urządzeń. Cała dokumentacja musi być w
języku polskim i angielskim. Obsługa wszystkich urządzeń musi być możliwa przy
wykorzystaniu języka polskiego lub angielskiego (dotyczy to w szczególności opisu
elementów sterujących na konsolach, urządzeniach itp., GUI wszystkich systemów
komputerowych, napisów ostrzegawczych itp.).
• Wykonawca sprawdzi bezpłatnie pomieszczenie instalacyjne w celu zapoznania się z
warunkami lokalizacyjnymi w budynku CBIMO, ZUT przy ulicy Klemensa Janickiego 35 w
Szczecinie i możliwości dostawy i instalacji całego zestawu w terminie do 20 dni od daty
podpisania umowy.
• Zostanie przeprowadzone szkolenie w obsłudze wszystkich elementów układu dla co
najmniej 3 osób w laboratorium Zamawiającego w wymiarze minimum 3 dni dla obsługi
mikroskopu wraz z oprzyrządowaniem po instalacji i pierwszym uruchomieniu urządzenia.
• Bezpłatne szkolenie aplikacyjne w laboratorium Zamawiającego w uzgodnionym
terminie (w okresie do 6 miesięcy od podpisania protokołu odbioru) w wymiarze co najmniej
3 dni.
• Termin dostawy nie dłuższy niż 120 dni.
Nie spełnienie któregokolwiek z wymagań spowoduje odrzucenie oferty.
4